ADI公司测量工程更上一层楼的挑战.PDFVIP

ADI公司测量工程“更上一层楼”的挑战 作者：Noel McNamara、Martina Mincica、Dominic Sloan和David Hanlon 共享 简介 我们现在希望让SiP （系统化封装）、微型模块和模块更上一层 楼，客户将再次向我们提出新的测量挑战，这些挑战将迫使我 多年来，“更上一层楼”一直隐含在ADI公司战略中，但最近，由 们改进测量方法并开发新颖的测试和测量解决方案。SiP利用复 于专注于提供更多解决方案，这一战略已变得明确。追根溯源， 杂的核心技术，将无源和有源器件集成在一起（有时还集成中央 曾经我们仅提供分立器件和数据手册。我们的新理念是参与并理 解我们要为客户解决的问题的全部。作为该理念的一部分，ADI 处理单元以执行配置和控制），从而达到前所未有的系统集成水 平。这种集成度引入了越来越多的功能、嵌入式特性组合、高级 公司的测量工程已超越传统的仅测试IC的方法，转而测试解决方 封装、内部节点访问问题、嵌入式软件、系统级校准等等。这些 案，包括软件、封装中的信号链系统、微型模块和其他元件。 解决方案简化了复杂转换器产品的使用体验，其复杂性问题以及 这种方法将确保我们开发的解决方案能为客户创造重大价值。 设计和测量障碍在ADI公司内部得到处理和解决。 在ADI公司内部，测量工程团队有时被视为开发硬件和软件以推出 产品的人员。然而，由测试和评估工程组成的测量部门是ADI公司 过去和现在 当前最具挑战性的工程专业之一。测量工程师是支撑公司与客户 最新测试和测量挑战的一个典型例子就是我们低功耗∑-Δ 系列产 关系的基础人员。他们是您在查看保证最大和最小器件规格、典 品的进步。为了展示所取得的进步，图1突出说明了这样一个事 型性能、最大额定值和稳健性时所信任的人。随着设计性能不断 实：我们系统化芯片的水平现在已经远远高于前几代转换器。该 提高，我们依赖测量工程师的经验来跟上性能各方面（速度、噪 产品系列中的最新产品是一款适合高精度测量应用的低功耗、低 声、功耗或新集成特性）改进的步伐。 噪声、全集成式模拟前端。该产品的信号链集成度要求24位∑-Δ模 数转换器(ADC)领域、基准电压源性能和精度方面、通道序列化和 测量专业由测试和评估工程组成，面对的挑战包括突破性性能、 时序方面、数字特性和功能方面及振荡器性能方面的测量经验。 按时交付和不断提高的质量要求。不久之前，我们处理的是10 作为比较，图1还显示了一款先前的典型16位器件，其在当时被 位或12位精度的简单单功能IC （转换器）。如今，20位SAR转换 认为具有突破性的性能。相关挑战已经解决，今天的技术已经提 器、20位DAC转换器和32位∑-Δ转换器展示了过去数年来，随着IC 高了好几个数量级。除非技术进步与我们的测试和测量能力相匹 技术的发展，测量挑战如何改变。为了阐明改变的程度，我们 配，否则我们将无法保持行业技术领先地位。 将考察低功耗∑-Δ产品的演变，以帮助说明所实现的信号链集成 的完整性，并突出强调这给我们测量能力带来的需求和进步。 模拟对话52-04 ，2018年4月 /cn/analogdialogue 1