材料分析测试方上法-4.pptVIP

  • 18
  • 0
  • 约6.17千字
  • 约 46页
  • 2019-01-11 发布于福建
  • 举报
材料分析测试方上法-4

X射线衍射方法 结构因子(Fhkl) 结构因子——定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数,用单胞内所以原子的散射波在衍射方向上的合成振幅来表示。 一个电子对X射线的散射 电子对X射线散射的本质——X射线光子与电子作用时,迫使电子绕平衡位置振动,产生相同频率和波长与入射束相同。 电子散射强度——汤姆孙公式 电子散射强度与散射角有关 (2θ= 0 处,散射强度最强,为相干散射) 一个原子对X射线的散射 原子对X射线散射:完全由其中所含的电子产生。 原子的散射强度:Ia= f Ie (f ≤ Z) 原子散射因子—以一个电子散射波振幅为单位度量的一个原子的散射波的振幅,反映一个原子将X射线散射到某一方向的效率。 一个晶胞对X射线的散射——结构振幅 或 结构因子F 结构因子的计算 一个晶体对X射线的衍射——形状因子 按位相对所有晶胞的散射波进行叠加,就得到整个晶体的散射波的合成波,即得到衍射束强度。 强度与振幅的平方成正比,故 消光规律: 简单点阵: 任意 (hkl) 晶面均可产生衍射,无消光 体心点阵: 当 h+k+l = 2n,(hkl) 晶面衍射 当 h+k+l = 2n+1,(hkl) 晶面消光 面心点阵:

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档