集成电路永测试4.pptVIP

第四章 故障模型 4.1 缺陷、错误和故障 4.2 功能测试与结构测试 4.3 故障模型的级别 4.4 故障模型术语表 4.5 单固定故障 4.6 多固定故障 4.1 缺陷、错误和故障 缺陷(Defects)：电子系统实现的硬件与期 望的设计之间的非故意差别。 错误(Errors)：由缺陷系统产生的错误输出 信号称为错误。错误是一些缺 陷产生的结果。 故障(Faults)：缺陷在抽象的函数级的表示 称为故障。 4.1 缺陷、错误和故障 4.1 缺陷、错误和故障 4.1 缺陷、错误和故障 4.1 缺陷、错误和故障 4.1 缺陷、错误和故障 一个节点短路到地。 信号b固定在逻辑0。 a=1，b=1时，c=0。 注意：输入为其它情况时， 没有错误发生。 4.2 功能测试与结构测试 结构测试 通过分析被测电路结构确定测试输入 测试输入可通过某一算法计算得出 测试时间相对功能测试短 4.3 故障模型的级别 寄存器传输级别 固定故障、桥接故障、延迟故障 晶体管级 开路故障、短路故障 其它模型 静态电路缺陷 4.3 故障模型的级别 固定故障（Stuck at fault）: 相应的逻辑故障由一个固定的逻辑信号（逻辑0或1）组成,标记为sa0或sa1. 桥接故障(Bridging fault)： 两个信号线之间的短路通常会引起一个新的逻辑功能，这种短路就是桥接故障。 4.3 故障模型的级别 延迟故障（Delay fault）: 这些故障导致电路的组合延迟超过了时钟周期。具体的延迟故障有传输故障、门延迟故障、线延迟故障等。 4.3 故障模型的级别 开路故障（open fault）： 由于连线断开而引起的故障。连线可能包括信号线、电源线、地线。 短路故障(short fault) ： 由于连接了不应该被连接的点而引起的故障。包括连接到电源、地、其它信号。 4.4 故障模型术语表 Assertion Faults Behavioral Faults Branches Faults Bridging Faults Bus Faults Cross-point Faults Defect-Oriented Faults Delay Faults 4.4 故障模型术语表 Functional Faults Gate-Delay Faults Hyperactive Faults Initialization Faults Instruction Faults Intermittent Faults Line-Delay Faults Logical Faults 4.4 故障模型术语表 Memory Faults Multiple Faults Non-classical Faults Oscillation Faults Parametric Faults Path-delay Faults Pattern Sensitive Faults Permanent Faults 4.4 故障模型术语表 Physical Faults Pin Faults PLA Faults Potentially Detectable Faults Quiescent Current Faults Race Faults Redundant Faults Segment-Delay Faults 4.4 故障模型术语表 Structural Faults Stuck-at Faults Stuck-open and Stuck-short Faults Transistor Faults Transition Faults Untestable Faults 4.5 单固定故障（SSF） 4.5.1 故障等价 4.5.2 单固定故障的等价 4.5.3 故障压缩 4.5.4 故障支配和检测点定理 4.5 单固定故障 某一电路信号节点固定为逻辑值0或1。 有固定1 故障（s-a-1，sa1）和固定0故障（s-a-0，sa0）两种。 单固定故障的3个特征： 1. 只有一条线是有故障的； 2. 故障线永远是0或1； 3. 故障可以是1个门的1个输入或输出； 4.5 单固定故障 4.5 单