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第八章 原子吸收光谱分析 8.1 原子吸收光谱分析概述 8.2 原子吸收光谱分析的基本原理 原子吸收与分子吸收谱线轮廓 KMnO4溶液的吸收曲线 能级跃迁 2. 光吸收定律 朗伯-比耳定律 将不同频率的光通过原子蒸气，部分入射光I0将被吸收，其透过光强度I与溶液浓度c和液层厚度b的关系： A = logI0/I = Kbc 式中A称为吸光度，K是吸收系数，与入射光波长、物质的性质和溶液的温度等因素有关。 I/I0称为透光率，用T表示。它与A的关系为： A=log 1/T = Kbc 3.原子吸收谱线轮廓与变宽 (2) 谱线变宽 压力变宽Δ? L 4.积分吸收和峰值吸收 讨论： (2) 锐线光源与峰值吸收 峰值吸收: 5. 基态原子数与原子总数 6. 定量基础 8.3 原子吸收光谱仪1. 构成 原子吸收中的原子发射现象 2. 光源 空心阴极灯工作原理 3. 原子化系统 (1)火焰原子化装置 (b) 燃烧器 火焰类型： 火焰种类及对光的吸收 (2) 石墨炉原子化装置 石墨炉原子化过程 (3) 其他原子化方法 2) 冷原子化法 4. 光学系统 狭缝宽度选择 5. 检测系统 8.4 定量分析方法 2. 标准加入法 8.5 干扰及抑制 背景干扰 背景干扰校正方法 2. 物理干扰及抑制 3. 化学干扰及抑制 (2) 化学干扰的抑制——可用标准加入控制 8.6 测定条件的选择 8.7 原子吸收分析特征参数及应用 2. 检出限 3. 应用 当单色器光栅的色散率一定时，其分辨率和集光本领取决于狭缝宽度。因此进口狭缝起着单色器光学系统虚光源的作用。 应根据测定需要调整狭缝宽度。调宽狭缝，出射光强度增加，但单色器分辨率降低，易使工作曲线弯曲，产生误差；反之，调窄狭缝，分辨率提高，但光强下降，相应要提高光源工作电流。 主要由检测器、放大器、对数变换器、显示记录装置组成。 1.检测器 将单色器分出的光信号转变成电信号。常用光电倍增管等。 分光后的光照射到光敏阴极K上，轰击出的光电子又射向光敏阴极1，轰击出更多的光电子，依次倍增，在最后放出的光电子比最初多到106倍以上，最大电流可达10μA，电流经负载电阻转变为电压信号送入放大器。 2.放大器 将光电倍增管输出的信号放大。 3.对数变换器 光强度与吸光度之间的转换。 4.显示、记录 原子吸收计算机工作站。 1. 标准曲线法 配制一系列不同浓度的标准试样，由低到高依次分析，将获得的吸光度A数据对应于浓度c作标准曲线。在相同条件下测定试样的吸光度A数据，在标准曲线上查出对应的浓度值。 注意在高浓度时，标准曲线易发生弯曲。向浓度轴弯曲(负偏离)由压力变宽影响所致。光谱干扰(背景干扰)引起正偏离。 取若干份体积相同的试液(cX)，依次按比例加入不同量的待测物的标准溶液(cO)，定容后浓度依次为： cX ， cX +cO ， cX +2cO ， cX +3cO ， cX +4 cO …… 分别测得吸光度为：AX，A1，A2，A3，A4……。 以A对浓度c做图得一直线，图中cX点即待测溶液浓度。 该法可消除基体干扰；不能消除背景干扰(可扣背景空白)。 1.光谱干扰及消除 主要指待测元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全，多来自光源和原子化装置。主要有以下几种： 1.在分析线附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线 可以通过调小狭缝的方法来抑制这种干扰； 2.空心阴极灯内有单色器不能分离的干扰元素的辐射 换用纯度较高的单元素灯减小干扰； 3.灯的辐射中有连续背景辐射 用氘灯扣背景或塞曼效应扣背景。 背景干扰主要是指原子化过程中所产生的光谱干扰，主要有分子吸收干扰和散射干扰。 分子吸收：原子化过程中，存在或生成的分子对特征辐射产生的吸收。分子光谱是带状光谱，势必在一定波长范围内产生干扰。 光散射：原子化过程中，存在或生成的微粒使光产生的散射现象。 产生正偏差。 石墨炉原子化法比火焰法产生的干扰严重。 氘灯连续光谱背景校正 旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提供的共振线通过火焰。连续光谱通过时，测定的为背景吸收；共振线通过时，测定总吸收；差值为有效吸收。 塞曼效应背景校正法 原子化器加磁场后，在磁场作用下共谱线发生裂分。随旋转偏振器的转动，当平行磁场的偏振光通过火焰时，产生总吸收；当垂直磁场的偏振光通过火焰时，只产生背景吸收；差值为有效吸收。 优点：校正