《J BT9495.5-1999-光学晶体散射颗粒度测量方法》.pdfVIP

ICS17.180;31.030 N 05 JB 中华人 民共和 国机械行业标准 JB/T9495.5-1999 光学晶体散射颗粒度 测量方法 Measuringmethodforscattergraininess ofopticalcrystal 1999一08一06发布 2000一0，一01实施 国家机械 工业 局 发布 JB/T9495.5-1999 前 言 本标准是对ZBN05001.5-86(光学晶体徽顺粒度 测t方法》的修订。本标准根据GB/T1.1-1993 和GB/P1.22-1993的要求对原标准作了编辑、文字上的修改，主要技术内容没有变化。 本标准自实施之日起，代替ZBN05001.5-860 本标准由仪表功能材料标准化技术委员会提出并归口。 本标准由北京玻璃研究所负责起草。 本标准主要起草人:于长江，杨学志。 本标准 1986年6月首次发布。 中华人民共和国机械行业标准 光学晶体散射颗粒度 测量方法 JB/T9495.5--1999 代替z3NOS0015一一SF Measuringmedwdfarscattergrahdness ofopticalcrystal 范围 本标准适用于光学晶体散射颗粒的定性测ica 2 引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时.所示版不均 为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性 JB/19495.1-1999 光学晶体 3 原理 光线沿晶体生长方向照射被测晶体，借助晶体内杂质颗位、气泡等对光的全反射作月引起的散射. 从1:面可以清晰地观察到晶体内散射颖位的请况。JB/19495.1- 1999的5.2规定对被测晶Ilk分级定类。 4 仪器 侧 晶体教豺颖粒度的仪器如图1所示。 t一激光电源;2一光谋l笼东激光器);3-晶体徉品;4-毅物台 图 1 国家机械工业局1999一08一06抵雁 2000一01一01实施 JB/T9495.5-1999 5 光源及样品 5，光源为2mW氮氛激光器和 IOOW白炽灯泡两种 ‘ 5.2样品:被测小块光学晶体各面均须抛光。粗糙度为R.6.3pm。大块光学晶体各面均须细磨，然后用 浸液Nti,浸液折射率应与被侧样品折射率相近差‘值么。=土1x10, 6 测且 6.1 侧t应在暗室中进行。 6.2 将被测晶体放在载物台上 (未抛光的晶体放在液槽内.然后倒人配好的浸液，将晶体全部浸没为 止)。 6.3 接通电源，点嫩激光光源(?1nW氦氖激光管)。 6.4 用2mW氦氮激光照明，观察晶体内散射颗粒，按JB/T9495.1-1999中5.2.4.2的规定对被测晶体 分类 6.5 将晶体ti于100W白炽灯光照射下计数晶体内散射颗粒(直径d0.05mm)的总截面积，按JB/T 9495 1-1999中5.2.4.1的规定对被测晶体分级。 7 测试报告 将MR结果填人表 1的测盆报告。 表 1光学晶体散射顺粒度测f报告单