SURPASS飞针简介(更新）.pptVIP

电阻法测试开路 原理：R=U/I A B D C ? RAB之電阻值：1.5Ω 设定开路电阻为10 Ω,当RAB 10 Ω,则AB为开路 RAC之電阻值：1.8Ω 设定开路电阻为10 Ω,当RAC 10 Ω,则AB为开路 RAD之電阻值：1.6Ω 设定开路电阻为10 Ω,当RAD 10 Ω,则AB为开路 结论:用电阻法测试1个net的X个端点之间相互是否开路的测试次数为X-1 电阻法测试短路 原理：R=U/I ? R12之電阻值： +∞ 设定绝缘电阻为20 MΩ,当R12〈 20 MΩ,则12为短路 R13之電阻值： +∞ 设定绝缘电阻为20M Ω,当R13〈 20 MΩ,则13为短路 R14之電阻值： +∞ 设定绝缘电阻为20M Ω,当R14〈 20 MΩ,则14为短路 R15之電阻值： +∞ 设定绝缘电阻为20 MΩ,当R15〈 20 MΩ,则15为短路 R23之電阻值： +∞ 设定绝缘电阻为20M Ω,当R23〈 20 MΩ,则23为短路 R24之電阻值： +∞ 设定绝缘电阻为20M Ω,当R24〈 20 MΩ,则24为短路 R25之電阻值： +∞ 设定绝缘电阻为20 MΩ,当R25〈 20 MΩ,则25为短路 R34之電阻值： +∞ 设定绝缘电阻为20M Ω,当R34〈 20 MΩ,则34为短路 R35之電阻值： +∞ 设定绝缘电阻为20M Ω,当R35〈 20 MΩ,则35为短路 R45之電阻值： +∞ 设定绝缘电阻为20M Ω,当R45〈 20 MΩ,则45为短路 结论:用电阻法测试X个net之间相互是否短路的测试次数为X*（X-1）/2 A B C D E F net1 G H J K L net2 N M P Q O R net3 net4 net5 原理：C = εS / 4πkd ε d ε B A + + + + + + + + + σ σ S Comp Side d VCC/GND ε 电容法测试开/短路 Net1 S1 Net5 S5 Net2 S2 Net3 S3 Net4 S4 原理：C = εS / 4πkd VCC/GND 电容法测试开/短路 1：如果net1没有开路,则C1=C1’=C1”;否则C1=C1’+C1” 2:如果net2与net3短路，则C2=C3,否则C2=C3 Comp Side d ε S1 S5 S2 S3 S4 C1” C1’ C5 C3 C2 C4 C1 線路正常 ? A之電容值：150μF B之電容值：147μF C之電容值：152μF D之電容值：148μF 电容法测试开路 A B D C A B D C ? A之電容值：149μF B之電容值：145μF C之電容值：150μF D之電容值：3μF 線路有斷路 结论:用电容法测试1个net的X个端点之间相互是否开路的测试次数为X 电容法测试短路 一：原理：C = εS / 4πkd ? net1之電容值：150μF net2之電容值：110μF net3之電容值：53μF net4之電容值：88μF net5之電容值：42μF 结论:用电容法测试X个net之间相互是否短路的最少测试次数为X A B C D E F net1 G H J K L net2 N M P Q O R net3 net4 net5 Microcraft 之PDM測試法說明 纯电阻 测试开路 读取PDM值 C0.05PF 存相应NET 的PDM值 不存PDM值, 后续片用电 阻法测试 开/短路 用PDM 法测试 短路 完成 用电阻 法测试 PASS 不读取PDM值 后续片相应NET 用电阻法测试 FAIL 是 否 FAIL PASS 完成 开/短路 测试(标准为 +/-10%) 完成 用电阻 法测试 开/短路 PASS FAIL 完成 首片 后续片 已存PDM值 的NET 是 否 未存PDM值 的NET SUPASS测试原理 Continuity漏測問題(1) Probe A (Component Side) Probe B (Solder Side) Continuity漏測問題（1） 針對電容量測而言，無法測出導通孔C之高電阻值 針對單面測試而言，無法測出導通孔A或B或C之斷路 Pad Pad 150Ω Via Hole A Via Hole B Via Hole C Continuity漏測問題(2) Probe A (電容值 X ) Probe B (電容值 X ) 在測試首片時，假如probe A 和B所測的電容值相同的話，斷路將無法被檢測出來 (若採用更精準的量測（up to fF)，則假的問題點便會增多，縱然一條好的線路的 電容值有一