透射电子显微分装析48
第七章
透射电子显微分析;绪论;透射电子显微镜(TEM)正是这样一种能够以原子尺度的分辨能力,同时提供物理分析和化学分析所需全部功能的仪器。特别是选区电子衍射技术的应用,使得微区形貌与微区晶体结构分析结合起来,再配以能谱或波谱进行微区成份分析,得到全面的信息。
;TEM简介:
透射电子显微镜(简称透射电镜,TEM),可以以几种不同的形式出现,如:
高分辨电镜(HRTEM)
透射扫描电镜(STEM)
分析型电镜(AEM)等等。
入射电子束(照明束)也有两种主要形式:
平行束:透射电镜成像及衍射
会聚束:扫描透射电镜成像、微分析及微衍射。; TEM的主要发展方向:
(1) 高电压:增加电子穿透试样的能力,可观察较厚、较具代表性的试样,现场观察(in-situ observalion) 辐射损伤; 减少波长散布像差(chromatic aberration) ; 增加分辨率等,目前已有数部 2-3 MeV 的TEM在使用中。左图为200 keV TEM之外形图。 ;(2)高分辨率:最佳解像能力为点与点间0.18 nm、线与线间0.14nm。美国於1983年成立国家电子显微镜中心,其中1000 keV之原子分辨电子显微镜 (atomic resolution ele
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