一种新的半导体激光器线宽展宽因数测量算法-激光与红外杂志.PDF

第 卷 第 期 激 光 与 红 外 年 月 激光器技术 文章编号 一种新的半导体激光器线宽展宽因数测量算法 叶会英 王艳花 禹延光 郑州大学信息工程学院河南 郑州 摘要在外腔波动情况下根据光反馈自混合干涉系统不同反馈机制下的干涉信号特征设 计了由一个周期内信号特征点在靠近振动中心位置的下条纹中相对应的映射点位置测量线宽 展宽因数的算法 通过仿真和实验验证 与以往算法相比 本文设计的算法不受光反馈水平机 制的限制 线宽展宽因数的精确测量对于半导体激光器性能的研究与应用具有重要意义 关键词光反馈自混合干涉线宽展宽因数映射点位置测量反馈机制 中图分类号文献标识码 引言 法需测量参数多且只适用于弱光反馈情况 文献 线宽展宽因数 是描述半导体激光器性能的 基于信号滞回特点利用信号特征点来 测量线宽展宽因数 该方法适用于光反馈水平因子 一个重要参数半导体激光器许多特性如线宽啁 小于 的情况 文献 提出了适用于强光反馈水 啾 注入锁定范围及动态特性等 都与 有关 因此 的精确测量对于半导体激光器特性研究以 平的对称折叠算法 本文基于信号特点提 及半导体激光器的应用系统特性研究都具有重要意 出一种测量参数少适用范围更广的映射点测量 方法 义 已有的测量方法线宽法 法 法 注入锁定法 以及光反馈自 基础理论 光反馈自混合干涉系统的理论模型可由 混合干涉 测量法 光反馈自混合干涉 测量法因系统简单测量精度高而优于其他方法 方程描述如下 目前 基于光反馈自混合干涉测量 的研究已 基金项目国家自然科学基金项目 资助 有一些成果 在弱光反馈条件下 光反馈水平小于