数字电路实征验43.pptVIP

胡俊杰 2005.3 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验目的 熟悉电子实验箱的功能及使用方法。 认识集成电路的型号、外形和引脚排列 学习在实验箱上实现数字电路的方法。 掌握逻辑门电路逻辑功能的测试、使用的基本方法。 掌握逻辑门电路的替换方法。 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验原理 逻辑门电路是最基本的逻辑元件，它能实现最基本的逻辑功能，即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。 实验中提供的集成块为74LS系列的低功耗肖特基TTL电路和74HC系列高速CMOS电路，它们在逻辑上兼容，但具体物理参数不同，在实验中采用统一电源＋5V；经实际测定可以直接互接，但有些条件下要通过接口互接，在74LS门电路驱动74HC门电路时，要测量输出高电平电压是否够高，实际测量值要≥3.5V。而74HC门电路驱动74LS门电路时，扇出系数较小，小于10。。 本次实验是在门电路的输入端输入不同的电压时，表示输入不同的逻辑电平。输出端输出不同电压，表示输出不同逻辑电平。测量输入、输出电压变化与逻辑电平的对应关系，根据输出电平与输入电平关系，以确定门电路的逻辑功能。 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 表1-2 双极型与CMOS一般特性比较 特性 符号/单位 74LS 74ALS 74HC 74HCT 输出低电平驱动门电路 输出电压 VoL(max)/V ≤