《集成电路设计原理》试卷及答案解读.docVIP

《集成电路设计原理》试卷及答案解读.doc

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《集成电路设计原理》试卷及答案解读.doc

电科《集成电路原理》期末考试试卷 一、填空题 1.(1分) 年,第一次观测到了具有放大作用的晶体管。 2.(2分)摩尔定律是指 。 3.集成电路按工作原理来分可分为 、 、 。 4.(4分)光刻的工艺过程有底膜处理、涂胶、前烘、 、 、 、 和去胶。 5.(4分)MOSFET可以分为 、 、 、 四种基本类型。 6.(3分)影响MOSFET阈值电压的因素有: 、 以及 。 7.(2分)在CMOS反相器中,Vin,Vout分别作为PMOS和NMOS的 和 ; 作为PMOS的源极和体端, 作为NMOS的源极和体端。 8.(2分)CMOS逻辑电路的功耗可以分为 和 。 9.(3分)下图的传输门阵列中,各管的阈值电压,电路中各节点的初始电压为0,如果不考虑衬偏效应,则各输出节点的输出电压Y1= V,Y2= V,Y3= V。 10.(6分)写出下列电路输出信号的逻辑表达式:Y1= ;Y2= ;Y3= 。 二、画图题:(共12分) 1.(6分)画出由静态CMOS电路实现逻辑关系的电路图,要求使用的MOS管最少。 2.(6分)用动态电路级联实现逻辑功能,画出其相应的电路图。 三、简答题:(每小题5分,共20分) 1.简单说明n阱CMOS的制作工艺流程,n阱的作用是什么? 2.场区氧化的作用是什么,采用LOCOS工艺有什么缺点,更好的隔离方法是什么? 3.简述静态CMOS电路的优点。 4.简述动态电路的优点和存在的问题。 四、分析设计题:(共38分 1.(12分)考虑标准0.13 CMOS工艺下NMOS管,宽长比为W/L=,栅氧厚度为,室温下电子迁移率,阈值电压=0.3V,计算V、V和0.9V时的大小。已知:,。 2.(12分)如图所示,M1和M2两管串联,且,请问: 1) 若都是NMOS,它们各工作在什么状态? 2) 若都是PMOS,它们各工作在什么状态? 3) 证明两管串联的等效导电因子是。 3.(14分)设计一个CMOS反相器,要求在驱动10fF外部负载电容的情况下,输出上升时间和下降时间都不能大于40ps,并要求最大噪声容限不小于0.55V。针对0.13工艺,已知:,,,,,,,,ln14.33=2.66,ln14=2.64。 PAGE 《集成电路原理》期末考试试卷 参考答案 一、填空题:(共30分) 1.(1分)1947 2.(2分)集成电路中的晶体管数目(也就是集成度)大约每18个月翻一番 3.(3分)数字集成电路,模拟集成电路,数模混合集成电路 4.(4分)曝光,显影,坚膜,刻蚀 5.(4分)增强型NMOS,耗尽型NMOS,增强型PMOS,耗尽型PMOS 6.(3分)栅电极材料,栅氧化层的质量和厚度,衬底掺杂浓度 7.(2分)栅极,漏极,VDD,GND 8.(2分)动态功耗,静态功耗 9.(3分)4,3,2 10.(6分),, 二、画图题:(共12分) 1.(6分) 2.(6分) 三、简答题:(每小题5分,共20分) 1.答:n阱CMOS的制作工艺流程:1.准备硅片材料;2.形成n阱;3.场区隔离;4.形成多晶硅栅;5.源漏区n+/p+注入;6.形成接触孔;7.形成金属互连;8.形成钝化层。 n阱的作用:作为PMOS管的衬底,把PMOS管做在n阱里。 2.答:场区氧化的作用:隔离MOS晶体管。 LOCOS工艺的缺点:会形成鸟嘴,使有源区面积比版图设计的小。 更好的隔离方法:浅槽隔离技术。 3.答:1.是一无比电路,具有最大的逻辑摆幅;2.在低电平状态不存在直流导通电流; 3.静态功耗低;4.直流噪声容限大;5.采用对称设计获得最佳性能。 4.答:动态电路的优点:1.减少了MOS管数目,有利于减小面积; 2.减小了电容,有利于提高速度; 3.保持了无比电路的特点。 动态电路存在的问题:1.靠电荷存储效应保存信息,影响电路的可靠性;

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