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製程能力分析方法介紹 講師: Tony.Wu / GQSD 製程能力分析方法介紹 介紹內容 : 一. X - R 管 制 圖 二. 製 程 能 力 ( CP / CPK ) 三. Z - 分 佈 圖 X - R 管制圖 功 能 : 可以讓我們知道製程上的差異,其中有些參數亦可應用在 “ 製程能力 ” 的計算式中. 方便又容易. 條 件 : 1. 先建立製程用之管制圖. 2. 將製程變得穩定 3. 然後再評估製程的能力. 作法步驟 : X - R 管制圖 A. 收集足夠資料. 最好能得到製程全部變化數據. 第一階段需 50 個讀值. 第二階段需 25 個讀值. 第三階段需 25 個讀值. B. 依數據與公式計算出自然管制界限與相關參數. X - R 管制圖 自然管制上限 ( UCL ) =CL + A2 x R 自然管制下限 ( LCL ) =CL - A2 x R X 管制圖公式 : 註: CL : 所有數據之平均值 (又稱為 double bar X ) A2 : 參數值須查表. 值之大小依樣品數目決定. R : 全部全距(R)的平均值. R : 一組數據中最大值減最小值所得之值.又稱為全距. R 管制圖公式 : X - R 管制圖 自然管制上限 ( UCL ) =D4 x R 自然管制下限 ( LCL ) =D3 x R 註: D3, D4 : 參數值須查表. 值之大小依樣品數目決定. R 的值是 R 管制圖的中心值. 製 程 能 力 功 能 : 可顯示出生產製程的能力是否達到可生產狀況. a. 一般而言 CP 1.33 時,該製程屬平穩可生產. b. 若 CP 1.33 時,該製程屬不平穩,需小心管制. c. CP 值愈大顯示製程的製造能力愈穩定. CP 值愈小則顯示製程的製造能力愈不足,需要作許多的改善. 製 程 能 力 公 式 : 製程能力值 CP = 規格上限值 - 規格下限值 6 σ (製程分佈值) σ (Sigama) = R / d2 ≒ S R : 可採用 X - R 管制圖的 “全距(R)的平均值”. d2 : 參數值須查表. 值之大小依樣品數目決定. 本公式適用於規格有設定 上下限值者 (max / min 值 ). 製 程 能 力 製 程 能 力 計算方式如附件所示. GO 製程能力值 CPK(U) = 規格上限值 - 規格中心值 3 σ (製程分佈值) 本公式適用於規格只有設定 上限值 (max 值 ). 製程能力值 CPK(L) = 規格中心值 - 規格下限值 3 σ (製程分佈值) 本公式適用於規格只有設定 下限值 (min 值 ). 功 能 : 可提供瞭解製程的變異與不穩定趨勢,預先提出改善預防. 請參閱下頁例子說明. Z = 規格值 - 全部數據的平均值( X ) σ (Sigama) 以上X, σ 值與 X - R 管制圖之值相同. Z 分 佈 Z 分 佈 例子說明: 假設: d2 =2.326 X =0.8312 Z 分 佈 R =0.01435 步驟 1. 用X - σ 管制圖 或 X - R 管制圖找出自然管制上下管制界限. σ = R d2 0.01435 = 2.326 0.00617 = UCL = X + 3 σ =0.8312 + 3 x 0.00617 = 0.8497 LCL = X - 3 σ = 0.8312 - 3 x 0.00617 = 0.8127 步驟 2. 計算出UCL / LCL 超出規格上下限所佔之比率 Z (UCL) = 規格上限 - 0.8312 σ = 0.84 - 0.8312 0.00617 = 1.426 由Z分佈表查知 1.426 所佔面積約 0.423 = 42.3% 超出規格上限的不良比率 : 50% - 42.3% = 7.7% Z 分 佈 Z (LCL) = 規格下限 - 0.8312 σ = 0.82 - 0.8312 0.00617 = -1.8152 由Z分佈表查知 1.8152 所佔面積約 0.4653 = 46.53% 超出規格下限的不良比率 : 50% - 46.53% = 3.47% 步驟 3. 將超出規格上下限的不良比率相加即等於製程不良率 製程不良率 = 7.7% + 3.47% = 11.17% (估計值) Z 分 佈 LCL=0.8127 UCL=0.8497 規格下限=0.82 規格上限=0.84 46.53% 42.3% X =0.8312 3.47% 7.7% 3σ 3σ 製程不良趨勢