第十二讲 瞬态参量测量12-1.ppt

瞬态参量测量 一 时间和速度测量 各种弹丸和飞片的飞行速度，不同介质的冲击波（激波）速度、粒子速度或自由表面运动速度，炸药的爆轰和燃烧速度，物体的位移速度，固体裂纹的传播速度，以及金属射流的侵彻速度等 电探针法和光探针法。电探针法是一种成熟而实用的方法，电探针的构造多种多样，其响应时间都在纳秒量级。采集装置多用电子计数式测时仪，时间分辨率可达十纳秒。 光探针法是用高速摄影机拍摄物体的表面运动或激波到达时产生的光强变化，有闪光隙法、平面镜反射法、倾斜镜反射法、刀刃反射法和光学杠杆反射法等。这些光学方法多是通过对底片的分析获得数据的，时间分辨率通常受高速摄影机的限制。 除上述电探针法和光探针法外，还有变电阻法、电容法、电磁法、变磁阻法、光栅法和光导纤维法等多种测速方法。这些方法和所获得的输出信号是连续变化的模拟信号，因而可测出连续的速度变化过程。此外，还有X射线阴影照相法，可拍摄物体内部的变化过程，例如金属中射流的侵彻过程等。 压力和应力测量 包括不同承载物上的压力历程，流体中的激波，固体中的应力波以及炸药中的爆轰波。 采用各种压力传感器作为检测元件。 以应变片受载后电阻值发生变化为原理的应变式压力传感器虽频响较低（约在40千赫以下），但性能稳定可靠。以压电电荷效应为原理的晶体压力传感器频响可达数百千赫以上，量程也可达100兆帕以上，但使用不太方便。短路电流法晶体应力计的反应快，可用来检测材料中变化时间为纳秒量级的应力波。 以压阻效应为原理的硅半导体压力传感器，体积小，频响可高达1兆赫以上，近年来发展很快。薄片状的锰铜压阻传感器和碳膜压阻传感器响应非常快，前者可用于对30吉帕以下应力的检测。此外用纹影照相法、全息干涉法和动态光弹性法拍摄透明流体中的激波和固体中的应力波可获得波的图象。 变形和应变测量 多数采用电阻应变片为敏感元件，可得的最大应变值约在百分之一以内。但是检测快速瞬变现象，对所用的应变片及其测试线路的频响要求高，一般的动态电阻应变仪有时不能满足，必须采用超动态电阻应变测量系统，后者的频响可达1兆赫。由于贴片技术的限制，动态应变测量的精度很难高于5%。动态光弹性法、云纹法、散斑干涉法和全息干涉法都可以记录应变或变形场的变化。 温度测量 主要是测量在冲击载荷作用下的物体表面或内部温度。在冲击载荷的作用下，物体温度可达数百或上千摄氏度，温度上升时间可小于1微秒。温度测量大多采用快速响应的温差电偶作检测元件，也有用光学方法测量表面温度的。由于在测点上同时还会产生很大的高应变率的应变和压力梯度，会影响传感器，产生虚假信号，并与温度信号混在一起，必须用实验或分析的方法排除这些影响。 测试技术 电测系统的原理如图所示。数字记忆示波器和波形存贮器是采集快速单次现象的通用仪器。它可以把单次现象的模拟信号数字化后存储在大容量的半导体存贮器里,既可以输出数字信号,也可以输出模拟信号。通过接口与计算机联接直接进行数据处理，就组成了完整的数据采集和处理系统。由于电子技术的飞速发展，其性能不断被刷新。采样速率目前可达102皮秒/字量级（PS/w). 过去使用的记忆示波器把单次波形冻结在荧光屏上，再用照相的方法拍摄，然后进行分析。测量精度低，使用不方便，已经被淘汰。 在光测技术中，除了前面提到的一些方法外，由于应用了激光，出现了许多新的测试方法。如测量物体运动速度的遮断法、反射法和干涉法等。其中干涉法类型很多，有迈克耳逊法、延迟臂法、微分法和法布里-珀罗法等。利用激光为光源的纹影法、散斑干涉法和全息干涉法，用于测量固体的应力、应变场和流体的流场。在光测时，记录快速过程的设备主要是快速光电器件和高速摄影机。 固体激波测量方法 当一平面纵激波在固体中传播时，根据跨过波阵面的质量、动量和能量守恒条件，在相对于激波前方材料为静止的空间坐标系中，可得到联系初态和终态五个参数（密度ρ、质点速度u、正应力、比内能e和激波相对前方介质的空间波速D）的三个方程，即激波的基本方程。如果给定材料的状态方程已知，那么只要由实验方法测定五个参数中的任意一个，其余四个即可确定。如果状态方程未知，则需要测定两个。通过对自由表面的观察，进行自由表面速度ufs和激波速度测量的方法称为自由表面测量；直接观察激波本身的（一般是测压力和密度）称直接测量。 自由表面测量 根据冲击波理论，当激波通过试件到达自由表面时发生反射。图12.1是用压力——速度平面表示这种关系。OA是材料的雨贡尼奥曲线，AB是等熵的卸载路