Muon谱仪端盖近端探测器SW-Indico.PPTVIP

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Muon谱仪端盖近端探测器SW-Indico

技术创新奖答辩 技术创新奖答辩 技术创新奖答辩 技术创新奖答辩 技术创新奖答辩 技术创新奖答辩 技术创新奖答辩 技术创新奖答辩 技术创新奖答辩 技术创新奖答辩 技术创新奖答辩 技术创新奖答辩 基于Qt的sTGC探测器Pad前端板性能测试软件设计 核探测与核电子学国家重点实验室 中国科学技术大学近代物理系 报告人: 王鑫鑫 导 师: 金革 教授 内容摘要 设计背景 1 2 硬件结构 3 软件设计 4 测试结果 5 总结与展望 设计背景 Muon谱仪端盖近端探测器 SW (Small Wheel) ATLAS Phase 1升级任务之一是新建一个New Small Wheel (NSW)用于L1触发和测量Muon轨迹,目的是降低前端误触发率、提高SW的探测效率和分辨率。 设计背景 中国科学技术大学负责sTGC全部前端电子学读出板(pFEB sFEB,33万通道,近2000块读出板)的研制和生产、测试安装。 pFEB 针对pad和wire的信号读出,sFEB针对strip的信号读出。 本文所研究的是pFEB性能测试软件的设计,解决sTGC探测器pFEB性能测试中多通道、多性能参数的需求。 NSW由Micromegas和sTGC二种探测器组成 3个VMM2芯片(192通道) 2个用于缓冲VMM2数据的Kintex-7 FPGA 1个千兆以太网收发器(GET) 2个mini-SAS连接器 硬件结构 VMM2芯片是为探测器定制的专用读出芯片,由64个具有输入的线性前端通道组成,具有8种可调增益 采集板的性能扫描测试包括 基线幅度测试 决定阈值的选取、用于估算输入电荷、确定通道基线差异 VMM内部测试脉冲DAC模拟输出与数字输入标定 VMM阈值DAC模拟输出与数字输入标定 单通道增益线性 VMM2芯片具有高动态范围,提供8个增益。 测试在同一增益下VMM2对电荷信号处理后的数字输出与其电荷输入是否成相应比例的线性关系。对于给定的通道增益,可以获得某个输入脉冲下峰值的直方图。 改变脉冲发生器DAC的数字输入值,可以进行线性测试。 通道一致性 验证同一片VMM的各个通道在有外部输入的情况下,是否都有输出,且同一事例率输入下输出事例是否均一,找出坏死通道。 设计原理 测试软件的图形用户界面 软件设计 多线程 数据采集 用户界面构建 192通道基线幅度测试 VMM内部测试脉冲DAC模拟输出与数字输入标定 VMM阈值DAC模拟输出与数字输入标定 单通道增益线性 通道一致性 软件设计 XADC自动扫描测试 上位机自动修参测试 外接仿真信号源测试 自动测试 测试结果 单通道增益线性测试 基线幅度测试 内部测试脉冲DAC的模拟输出与数字输入标定 阈值DAC的模拟输出与数字输入标定 本套自扫描测试平台软件界面美观,操作流畅,用户使用方便,稳定性好,成功实现了对pFEB相应参数的自动测试功能,同时它也可用于sFEB的扫描测试。 未来将完善通道自动扫描测试方案,对本软件进行优化,增加它的功能,以应对前端电子学繁重的测试工作; 改变数据分析方式,期望能够做到对采集的数据进行在线处理与实时显示。 总结与展望 敬请批评指正,谢谢! * 在整个ATLAS实验装置的运行中,由于设计上的缺陷,现行Muon谱仪在LHC升级后面临的问题最为紧迫。 —高亮度下,现有的small wheel 的探测效率和分辨率都会急剧下降; —在small wheel 与端盖muon探测器之间的磁铁区域会产生非常多的次级低能质子,由于small wheel的位置分辨能力不够,会造成大量的误触发,而误触发率在90%左右。 为此,ATLAS决定在2018年进行Phase I升级,其主要任务是,研制Muon谱仪端盖NSW新型探测器系统。 * NSW Phase 1 Upgrade主要由端盖升级,NSW离线径迹探测器Micromegas、在线触发探测器sTGC(small Thin Gap Chamber)及电子学读出系统升级,量能器CAL触发电子学升级三部分构成。 ATLAS Phase 1 NSW触发升级,将研制空间分辨率更为精确的新型sTGC探测器,并采用L0级触发Pad , L1级触发Strip+,和离线径迹重建精确定位的三维读出结构。 该图为NSW探测器架构,右图为一个探测器模块的刨面图,前后为4+4层sTGC触发探测器,中间为Micomegas径迹探测器。 * 本文针对pFEB的测试采用的VMM模拟输入信号为VMM内部产生的幅度可调的内部测试脉冲信号,该方波信号经一个电容后输入VMM各个线性前端通道。VMM2的输出数字信号进入FPGA,并在FPGA中完成相应的读出和分析。FPGA通过网口与上位机通讯,实现上位机对VMM2的配置和FPGA数据向上位机的数据

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