电子产品可靠近性试验标准目录.docVIP

  • 9
  • 0
  • 约6.39万字
  • 约 65页
  • 2019-01-19 发布于福建
  • 举报
电子产品可靠近性试验标准目录

PAGE PAGE 1 电子产品可靠性试验标准 电子产品可靠性试验国家标准服务: GB/T 15120.1-1994 识别卡 记录技术 第1部分: 凸印 GB/T 14598.2-1993 电气继电器 有或无电气继电器 GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法 GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则 GB/T 5839-1986 电子管和半导体器件额定值制 GB/T 7347-1987 汉语标准频谱 GB/T 7348-1987 耳语标准频谱 GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语 GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则 GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法 GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则 GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法 (用于威布尔分布) GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法 (用于威布尔分布) GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法 (用于威布尔分布) GB/T 5080.1-1986 设备可靠性试验 总要求 GB/T 5080.2-1986 设备可靠性试验 试验周期设计导则 GB/T 5080.4-1985 设备可靠性试验 可靠性测

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档