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实验四 线性系统的根轨迹分析.pdfVIP

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实验四 线性系统的根轨迹分析

仲恺农业工程学院实验报告纸 自动化学院 (院、系) 工业 自动化 专业 144 班 组 自动控制原理实验 课 学号 201421714406 姓名 黄国盛 实验 日期 2016年 11月 27 日 教师评定 实验四 线性系统的根轨迹分析 一、 实验 目的 1.根据对象的开环传函,做出根轨迹图。 2.掌握用根轨迹法分析系统的稳定性。 3.通过实际实验,来验证根轨迹方法。 二、 实验设备 PC 机一台,TD-ACC 系列教学实验系统一套。 三、实验原理及内容 1.实验对象的结构框图 R (S) + E (S) 1 K1 K2 C (S) _ T S T S+1 T S+1 0 1 2 图3-1 2 .模拟电路构成 2uF 500K 1uF 200K 2uF 500K r (t) 200K 500K 500K R _ _ _ _ C (t) 输入 输出 10K 200K 测量端 10K _ 图3-2 K 系统的开环增益为 K=500KΩ/R,开环传递函数为:G(S) S(S 1)(0.5S 1) 3 .绘制根轨迹 (1) 由开环传递函数分母多项式 S(S+1)(0.5S+1)中最高阶次 n=3,故根轨迹分支数为 3。 开环有三个极点:p1=0,p2=-1,p3=-2。 (2) 实轴上的根轨迹: 第 1 页 共 5 页 ① 起始于 0、-1、-2,其中-2 终止于无穷远处。 ② 起始于 0 和-1 的两条根轨迹在实轴上相遇后分离,分离点为 d[S(S 1)(0.5S 1)] S 0.422 2 1 1.5S  3S 1 0  ds

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