磁偏转小型质谱仪实验中钼带温度测量的新方法-复旦大学物理教学实验.PDF

磁偏转小型质谱仪实验中钼带温度测量的新方法 罗胤（复旦大学 物理系，上海 200433 ） 摘要：本文主要介绍磁偏转小型质谱仪实验中对钼带温度测量的新方法，通过测量得出温度 与钼带单位长度电功率、平均电阻率的普适关系，对质谱实验中的温度测定提供帮助。 关键词：小型质谱仪 温度测量 平均电阻率 单位长度电功率 可以利用数学物理方程中的扩散方程计算整 一、引言 个体系的温度分布，但是这种方法较为烦琐，并且 质谱仪是利用带电粒子在电磁场中的运动规 整个体系中有很多的未知量，同时扩散方程也只是 律，实现按质荷比进行分离，从而探测物质的组分 一个理想化状态，故在下面的讨论过程中，并不采 与含量的实验仪器。 用解扩散方程的方法。 本实验采用磁偏转小型质谱仪，使用表面电离 根据假设 1，钼带是唯一的热源，而钼带两端 型离子源。表面电离型离子源由一定尺寸的表面涂 与不发热的导线柱相连，故当温度稳定后（即不随 有样品的钼带和离子引出孔（出射缝）组成，当钼 时间变化），钼带表面应该具有一个温度分布，设 带温度足够高时，样品将分解，并以原子形式发射 为T ( x, P) ，式中自变量x 是沿钼带表面的位移（设 到空间，此时，金属表面被一定浓度的原子所包围， 撞击到灼热金属表面的原子可以发生电离，并在加 P 钼带中点处x 0 ）， 为钼带的电功率。实验中利 速电场的作用下进入质量分析器。在这个过程中， 用热电偶测量钼带中点处的温度，即T (0, P) ，可 金属原子的电离效率可近似地表示为温度的函数， 为了研究不同样品的分解温度、离子流发射温度以 以得到钼带的P −T 关系。 及电离效率与温度之间的关系，必须对实验过程中 当钼带的温度达到稳定分布后，钼带的产热与 的钼带进行实时的温度测量。但是，在大多数的磁 整个体系的散热应该相等，钼带的产热功率可以近 偏转小型质谱仪中并没有温度传感器，并且对涂有 似认为是其电功率，整个体系的散热与钼带长度、 样品的钼带进行温度测量有一定的操作难度，故通 体系真空度、仪器结构有关。故对于相同长度的钼 常的做法是将一条没有涂样品的相同尺寸的钼带 带在相同的真空状态下，使用相同的仪器，应该满 在一台可以进行温度测量的仪器中，加以相同大小 足相同的能量分布。使用结构相似的仪器，在相同 的电流，对其温度进行测量。使用这种测量方法不 的真空状态下，使用不同长度的钼带，应该具有类 仅需要进行更多的实验，并且要求使用相同尺寸的 似形式的P-T 关系。 钼带，对实验带来了一定的难度。 为简化计算，假设温度稳定后钼带的温度分布 不随 T x 改变而改变，即∂T / ∂x 0 ，可以将 表示 二、实验原理与方法 为仅用P 作自变量的函数T ( P) ： 表面电离型离子源的主要发热装置由两个金 T ( x, P) T ( P)