实验一 TTL集成逻辑与非门参数的测试.pptVIP

* * 实验九 TTL集成逻辑与非门 参数的测试实验 实验目的 实验原理 实验参考电路 实验预习要求 实验内容和步骤 实验注意事项 TTL使用注意事项 实验设备与器材 实验思考题 实验报告要求 一 实验目的 了解TTL与非门各参数的意义。 掌握TTL集成与非门主要参数的测试方法。 掌握TTL器件的使用规则。 二 实验原理 随着现代电子技术的飞速发展，集成电路具有体积小、重量轻、可靠性高、寿命长、功耗小、成本低和工作速度快等优点，因此它在数字电路领域中，几乎取代所有分立元件电路。集成逻辑门是构成各种数字电路的基本逻辑单元，而TTL与非门是目前使用较普遍的一种基本逻辑门电路。与非门主要参数的测量是选择器件与设计逻辑电路时必须掌握的。 本实验采用74系列双列直插式四－2输入TTL与非门74LS00集成芯片进行参数测试，其外形引脚排列及逻辑符号如图2-1-1所示。 图2-1-1 74LS00外形引脚排列和TTL与非门逻辑符号 （1）平均功耗P TTL与非门工作于开态（输出低电平）和关态（输出高电平）时，电源电流值是不同的。电路处于稳定开态时的空载功耗称为空载导通功耗PL： PL =IEL ×VCC 式中，IEL —— 空载导通电源电流； VCC —— 电源电压。 测试条件：与非门的输入端悬空，输出空载，VCC=5V。 电路处于稳定关态时的空载功耗称为空载截止功耗PH： PH =IEH×VCC 式中，IEH —— 空载截止电源电流； VCC —— 电源电压。 测试条件：与非门的输入端至少有一个接地，输出空载，VCC=5V。 平均功耗：P为电路空载导通功耗PL与空载截止功耗PH的平均值。 即： (2) 输入短路电流IIS 输入短路电流是在输入端接地时流经输入端的电流IIS。由于输入端接地，因此又称它为低电平输入电流，以IIL表示。它是与非门的一个重要参数，因为入端电流就是前级门电路的负载电流，其大小直接影响前级电路带动负载的个数，因此IIL越小越好。 测试条件：被测某个输入端通过电流表接地，其余各输入端悬空，输出空载，VCC=5V。 （3）电压传输特性 TTL 与非门电压传输特性是指输出电压UO随输入电压Ui变化的关系曲线： UO =f(Ui ) 电压传输特性的测试方法可采用逐点测试法，即利用电位器调节被测输入电压Ui，按表2–1–2 的要求逐点测出输出电压UO，将数据填入表 2–1–2 中，根据测量的结果画出电压传输特性曲线。 电压传输特性曲线可以反映出TTL与非门UOH，UOL，UON，UOFF等主要特性参数。 ① 输出逻辑高电平UOH和输出逻辑低电平UOL 在电压传输特性曲线截止区的输出电压为输出逻辑高电平UOH ;饱和区的输出电压为输出逻辑低电平UOL。 ② 开门电平UON、关门电平UOFF及阈值电压UTH 通常规定TTL与非门额定输出逻辑高、低电平分别为UOH =3V和UOL = 0.35V。在保证输出为额定高电平(3V)的90％(2.7V)的条件下，允许输入的低电平最大值称为关门电平UOFF；在保证输出为额定低电平(0.35v)的条件下，允许输入的高电平最小值，称为开门电平UON。一般情况UOFF≥0.8V，Uon≤1.8V。 在转折区内，TTL与非门状态发生急剧的变化，通常将转折区中点对应的输入电压称为TTL门的阈值电压UTH 。一般UTH ≈ 1.4V。 （4）扇出系数NO 扇出系数NO是指输出端最多能带同类门的个数。它反映门电路输出端驱动负载的能力。 NO= 式中，IOlmax —— UOL不大于0.35V时允许灌入的最大灌入负载电流； IIS —— TTL与非门的输入短路电流。 测试方法：通过调节电位器RL的阻值，使输出电压UO=0.35V，测出此时的负载电流IOLmax，这就是允许灌入的最大负载电流。 （5）平均传输延迟时间tpd 在集成门电路中由于晶体管开关时间的影响，使得输出和输入之间存在延迟，即存在导通延迟时间tPHL和截止延迟时间tPLH。 平均传输延迟时间为 tpd= tpd的大小反映了TTL门的开关特性，主要说明TTL门的工作速度。 如图2-1-2所示。 图 2–1–2 延迟时间 由于TTL门电路的延迟时间较短，直接测量时对函数发生器和示波器的性能要求较高，所以一般采用环形振荡器法进行测量。 测量方法：由奇数个门首尾相连组成环形振荡器进行测量： tpd≈= 式中，N为门电路的个数，T为环形振荡器的振荡周期。 三 实验参考电路 与非门主要参数IEL，IEH，IIS，NO，tpd测试电路 图2-1-3 IEH测试电路原理 图2-1-4 NO测试电路原理 图2-1-5 电压传输