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zno基稀磁半导体的制备与性质研究凝聚态物理专业论文

,,、},k.、.,.、,jltq盘囊.t ,,、},k.、.,.、 ,jltq盘囊.t ~ ZnO基稀磁半导体的制备与性质研究 ■,“ ..i~.r ,#-l墓£》t《。l§罨薏秀、1 重庆大学博士学位论文 学生姓名:夏川茴 指导教 师: 胡陈果教授 l}#I, 专 业:凝聚态物理 学科门类:理学 重庆大学数理学院 二O—o年四月 。喙_谚最F弘 山,“滋黼 、 、 { ; j } ! eticA etic A Thesis Submitted to Chongqing University in Partial Fulfillment of the Requirement for the Degree of Doctor of Science By Xia Chuanhui Supervised by Prof.Hu Chenguo Maj or:Condenced Matter Physics College of Mathematics and Physics of Chongqing University,Chongqing,China April,2010 导致了一门新的学 导致了一门新的学 的电荷属性和自旋 为自旋电子学的重 为广泛的是过渡族 金属掺杂的ZnO所制成的DMS。尽管理论和实验上已经取得了可喜的结果,但是 到目前为止,虽然人们对磁性半导体的微结构、磁性、电子输运、磁电阻、光学、 磁光等性质都作了一些研究,然而来自不同研究小组的结果很不一致,甚至互相 矛盾。其中氧化物磁性半导体的磁性起源是争论的焦点。研究者认为磁性可能来 源于载流子诱导的交换作用、双交换作用等内禀的机制,也有可能是由于过渡元 素在半导体中的溶解渡偏低而形成的铁磁性杂质相而引起的。因此还有许多问题 有待于更进一步的研究。本文主要在ZnO基DMS方面开展了一些研究工作。 ①利用溶液腐蚀法制备了Mn2+离子掺杂的ZnO基稀磁半导体。XRD表明掺 杂后的ZnO仍然保持单一的纤锌矿结构,没有任何杂质相产生。XPS表明Mn离 子以+2价的形式存在于样品中。从紫外.可见光反射谱中,我们发现吸收边发生了 红移。掺杂后样品的室温PL谱除了紫外发射峰外,在蓝光区域还出现了两个新的 位于424nm和443nm的发射峰。室温磁滞回线显示样品有明显的铁磁性,剩余磁 化强度为0.3902x10。3 emu/cm3,矫顽力为470e。我们分析室温铁磁性来源于缺陷 调制的Mn2+.Mn2+长程铁磁交换相互作用。 ②利用溶液腐蚀法制备了不同浓度的Ni2+离子掺杂的ZnO基稀磁半导体。通 过改变反应时间控制掺入的Ni2+离子的浓度。XRD发现,随着掺杂浓度的增大, 样品中出现了NiO杂质相,证实了Ni在ZnO中的溶解度低于5%。XPS证明Ni 离子以Ni2+的形式掺入ZnO的晶格。室温下的PL谱的紫外发射峰随着掺杂量的 增加,峰强减弱,并出现了红移。当样品中掺入过多的Ni后,由于Ni离子会与 ZnO中的部分氧离子形成NiO杂质,相应在ZnO中会出现氧空位,因此在该样品 中还观察到了由于氧空位引起的绿光发射峰。不同浓度的样品都观察到了室温铁 磁性,对应Ni的浓度分别为2.38,4.35和5.54 at%,剩余磁化强度分别为0.454, 0.605和0.526emu/cm3。 ③用溶液腐蚀法制备了Fe掺杂的ZnO纳米棒阵列。通过调节反应时间控制 掺入Fe元素的含量。XRD测试发现随着掺入的Fe增多,有ZnFe204杂质产生。 XPS分析发现样品中Fe都以接近+3价存在。研究了掺杂对样品光学性质的影响, 重庆大学博士学位论文室温PL谱发现掺杂后紫外发射峰出现了红移,并且随着掺杂量的增多峰强在减弱。 重庆大学博士学位论文 室温PL谱发现掺杂后紫外发射峰出现了红移,并且随着掺杂量的增多峰强在减弱。 掺杂后由于有锌间隙缺陷的形成,三个样品都在蓝光区域产生了发射峰。同时对 于有Zn_Fe204杂质产生的样品在绿光区域出现了一个发射峰。对样品进行了磁性的 研究,掺杂前的ZnO在室温下表现出顺磁性,掺杂后,M.H曲线表现出明显的磁 滞行为,证明Fe的掺杂使ZnO具有了室温铁磁性。三个样品的剩余磁化强度分别 为0.372,0.613和0.557 emu/cm3,矫顽力分别为99.33,117.3和24.4 Oe。 ④由于Cu是非磁性离子,因此研究Cu离子掺杂是否引起铁磁性可以用来证 明DMS中的铁磁性是否是材料本征的关键。因此,我们用溶液腐蚀法制备了Cu 掺杂的ZnO。研究了掺杂对样品光学性质的影响,室温PL谱测试发现掺杂后紫外 发射峰出现了红移。同时,Cu离子进入ZnO晶格引入了如锌间隙以及氧空位等缺 陷造成PL谱在蓝光区域和绿光区域出现了发射峰。对样品进行了磁性的研

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