StatisticalProcessControl统计过程控制教材.ppt

应用控制图的准备工作： 建立一个适用于行动的环境 定义过程 确定要管理的特性 应考虑： －顾客的要求 －当前及潜在的问题领域 －特性之间的关系 定义测量系统，使之具有可操作性 使不必要的变差最小 具体要求可参见在使用X-R图前必须做的准备工作的要求。注意，必须可操作地定义其特性，因为特性的定义将影响所使用的控制图的类型－计数型控制图，如P图或计量型数据图。 A.收集数据 A.1 选择子组容量、分组频率及数量 a.子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如：50到200或更多）。但是应注意如果每个子组代表很长一段时间的操作，太大的子组容量会有不利之处。子组容量最好是恒定的。 b.分组频率：应根据产品的周期确定分组频率。时间间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求相矛盾。 C.子组的数量：收集数据的时间应足够长。一般情况下，应要求有25或更多的子组。 A.2 计算每个子组内的不合格品率（P） P=np 式中：n－被检项目数量， n np－发现的不合格项目数量。 A.3 选择控制图的坐标刻度 p图上的纵坐标表示不合格品率，横坐标为按时间顺序的子组。 纵坐标的刻度应从0到初始研究读数中最大的不合格品率值的1.5到2倍的值。 A.4 把计算的各子组的p值描画在p图上，将这些点连成线。应把过程异常情况记录在p图的备注栏中。 B.计算控制限 B.1 计算过程平均不合格品率（P） P= n1p1+n2p2+???+nKpK n1+n2+???+nK 式中：n1p1、n2p2…及n1n2为每个子组内的不合格项目数及检查的项目数。 注意不要混淆不合格品百分数（p×100）和不合格品率（p）。 － － _________________________ 三、计量型数据控制图 1、均值和极差图（X-R图） 在使用X-R图前，必须做的准备： 建立适合于实施的环境：没有一个可靠环境，任何统计方法都会失败。管理者必须提供资源（人力和物力）支持改进措施。 定义过程：应根据有反馈的过程控制系统来理解过程。 确定作图的（待管理）特性： --顾客的需求（顾客呼声，过程何处需改进）。 --当前的潜在问题区域、企业的瓶颈口，没有防错装置（考虑存在的浪费或低效能的证据，如：废品、返工、过多加班、与目标值不符，以及风险区域）。 --特性间关系，如：该特性难测量（如体积），可选一个相关的易测量的特性（如重量）。一个项目的几个单独特性如有相同变化趋势， 可能用一个特性来画图就足够了。 定义测量系统：测量设备本身的准确性和精密性，必须是可预测的。 使不必要的变差最小化：在开始研究应消除不必要的变差外部原因，避免过度调整或过度控制，过程记录表上应记录所有相关事件，如：刀具更换、更换人员、更换量具、新的原材料批次。 如何使用均值和极差图（X－R图）： 收集数据 计算控制限 过程控制解释 过程能力解释 A、收集数据 A.1选择子组大小、频率和数据 a.子组大小：确定“合理子组”。子组变差代表短时间内零件间的变差。 在过程初期时，子组一般选4－5件，且仅代表单一刀具、冲头、模槽（型腔）等生产出的零件（即一个单一的过程流）。 对于所有的子组样本容量应保持不变。 b.子组频率：在初始过程研究时，通常是连续进行分组或子组间间隔时间很短。 当证明过程稳定受控后，可增加子组间的时间间隔（如每班两次或每小时一次等）。 c.子组数的大小：一般情况下，零件总数不少于100件，子组不少于25组。 A.2建立控制图及记录原始数据 X-R图通常由X图和R图组成，上方为X图，下方为R图，最下方有一个数据栏。X和R值为纵坐标，按时间顺序的子组为横坐标。 A.3计算每个子组的均值（X）和极差（R） X = X1+X2+……+Xn R = Xmax-Xmin 式中：X1，X2…为子组内每个测量值n为子组的样本容量。 A.4选择控制图刻度 对于X图，纵坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值（X）的最大值与最小值差的2倍。 对于R图，纵坐标刻度值应从最低值0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。 A.5将均值和极差画到控制图上 注意：初始研究时，生产现场控制图尚未计算控制限（因无足够的数据），此时在初期操作的控制图上应清楚地标明“初始研究”字样。 n B.计算控制限 B.1计算过程均值（X）和平均极差（R） X = X1+X2+……+XK R = R1