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移动式高温数据载体TW
移动式高温数据载体
TW-Q51WH-HT-B128
■ 配置前，高温载码体必须经过在高温下的压
力测试。
■ 在数据载体上执行如下应力测试：
周期温度应力：20 °C下20分钟 / 220 °C下
20分钟
测试周期数：1500.
这一测试的成功并不代表可以它适合某些高
温，仅仅证明基本的可用性。
■ 支架TH-Q51S-HT和TH-Q51T-HT可以使数
据载体免受机械负载的影响并使其可以顺利
安装在金属上。
■ EEPROM，内存大小 128 字节
功能原理
HF读写头形成的传输区域内的工作频率是
13.56 MHz，传输距离的改变（0…500 mm）
型号 TW-Q51WH-HT-B128 由读写头和载码体共同决定。
货号
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