中央大学物理系强场物理与超快技术试验室.DOC

中央大學物理系強場物理與超快技術實驗室 光學元件測試流程 本單位對於廠商所提供之光學元件樣品，會統一針對其「反射率」、「表面平整度」、「損壞閾值」以及「色散」四項規格進行測試，以確認其品質達到投標規格書所宣稱之規格，並符合招標文件之要求。通過此四項測試之光學元件，本實驗室將開立合格證明。其測試流程如下： 反射率測量 (reflectivity) 平均反射率測量：[1] 選擇對應波長的雷射系統為光源。[2] 依照待測元件之工作角度與入射光極化方向，將雷射光導入待測元件。[3] 以雷射功率計量測入射光與反射光的功率，二者相除即得到平均反射率。[4] 測量結果符合原訂規格者為合格。 寬頻反射率測量：[1] 將前項之雷射功率計更換為光譜儀，測量入射光與反射光之光譜，二者相除即得到反射率對波長曲線圖。[2] 測量結果符合原訂規格者為合格。 表面平整度測量 (surface flatness) 本實驗室備有麥克森式干涉儀，將待測元件置於干涉儀的第一分支光路，其反射光與第二分支光路干涉形成干涉條紋圖，以CCD攝影機擷取此干涉條紋，計算其干涉條紋之偏移量，即得到待測元件之表面平整度。 測量結果高於或是等於原訂規格者為合格。 損壞閾值測量 (damage threshold) 本實驗室備有兩種高能脈衝雷射系統，第一種為Q開關之倍頻摻釹釔鋁石榴石 (Nd:YAD) 雷射系統，其可以提供能量