基于二氧化钒薄膜的太赫兹开关器件.PDF

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第 12 卷 第 5 期 太赫兹科学与电子信息学报 Vo1.12,No.5 2014 年 10 月 Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology Oct.,2014 文章编号:2095-4980(2014)05-0644-04 基于二氧化钒薄膜的太赫兹开关器件 1,2b 2a,2b 2a,2b 2a,2b 1 2b 2a,2b* 郭 超 ,罗振飞 ,王 度 ,孔维鹏 ,孙年春 ,杨存榜 ,周 逊 (1. 四川大学 电子信息学院,四川 成都 610065 ;2. 中国工程物理研究院 a.太赫兹科学技术研究中心,四川 绵阳 621999 ; b.激光聚变研究中心,四川 成都 610041) 摘 要 :二氧化钒(VO )作为一种优质的光电功能材料一直备受人们的关注,在信息存储、光 2 调制器、太阳能电池、光电探测器等方面有着重要应用。采用磁控溅射及原位退火氧化的“两步 法”制备了 VO2 薄膜,并对其进行晶态、形貌表征。设计并搭建 VO2 薄膜热致相变实验系统,研究 了 VO2 薄膜在变温条件下对 2.52 THz 辐射的开关特性。结果表明,VO2 薄膜样品为多晶态,具有明 显的太赫兹调制效果,可以实现对 2.52 THz 波的调制,并可作为太赫兹开关/调制器件的功能材料。 关键词 :太赫兹;VO2 薄膜;开关器件;热致相变 中图分类号 :TN204 文献标识码 :A doi :10.11805/TKYDA201405.0644 Terahertz switching device based on vanadium dioxide thin film 1,2b 2a,2b 2a,2b 2a,2b 1 GUO Chao ,LUO Zhen-fei ,WANG Du ,KONG Wei-peng ,SUN Nian-chun , YANG Cun-bang2b 2a,2b * ,ZHOU Xun (1.School of Electronics and Information Engineering,Sichuan University,Chengdu Sichuan 610065,China; 2a.Terahertz Research Center,China Academy of Engineering Physics,Mianyang Sichuan 621999,China; 2b.Research Center of Laser Fusion,Chin

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