基于March算法的SRAM内建自测试设计与验证-软件工程专业论文.docxVIP

学校代码 分 类 号  10701 TN4 学 号 1211122915 密 级 公开 TN82西安电子科技大学 TN82 硕士学位论文 基于 March 算法的 SRAM 内建自测试设计与验 证 作者姓名： 郭明朝 领 域： 软件工程 学位类别： 工程硕士 学校导师姓名、职称： 游海龙副教授 企业导师姓名、职称： 郭山民高工 提交日期： 2015 年 1 月 SRAM Built-in Self Test Design and Validation Based on March Algorithm A thesis submitted to XIDIAN UNIVERSITY in partial fulfillment of the requirements for the degree of Master in Software Engineering By Guo mingzhao Supervisor: You hailong Guo shanmin March 2015 西安电子科技大学 学位论文独创性（或创新性）声明 秉承学校严谨的学风和优良的科学道德，本人声明所呈交的论文是我个人在 导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。尽我所知，除了文中特别加以标 注和致谢中所罗列的内容以外，论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成 果；也不包含为获得西安电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的 材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说 明并表示了谢意。 学位论文若有不实之处，本人承担一切法律责任。 本人签名： 日 期： 西安电子科技大学 关于论文使用授权的说明 本人完全了解西安电子科技大学有关保留和使用学位论文的规定，即：研究 生在校攻读学位期间论文工作的知识产权单位属于西安电子科技大学。学校有权 保留送交论文的复印件，允许查阅、借阅论文；学校可以公布论文的全部或部分 内容，允许采用影印、缩印或其它复制手段保存论文。同时本人保证，获得学位 后结合学位论文研究成果撰写的文章，署名单位为西安电子科技大学。 保密的学位论文在 年解密后适用本授权书。 本人签名： 导师签名： 日 期： 日 期： 摘要 摘要 西安电子科技大学硕士学位论文 西安电子科技大学硕士学位论文 摘要 深亚微米工艺技术的不断发展和人们对数据存储需求的不断提高，共同促进 了存储器技术的飞速发展，存储器的重要性也越发显现。这主要表现为嵌入式存 储器在整个 SoC 系统中的应用越来越多，所占比重越来越大。然而，由于嵌入式 存储器往往深嵌在芯片内部，与其直接相连的 I/O 端口很少，很难实现对嵌入式存 储器的直接控制和观察，大大增加了测试难度；另一方面，随着工艺尺寸的缩小， 芯片上存储器密度的增加和存储器本身的复杂度不断提高，使得存储器不断出现 新的故障类型，测试数据越来越庞大，极大的增加了测试成本，原始的测试方法 已经难以应对这些新的挑战。 本文讨论的存储器内建自测试技术恰是专门针对于嵌入式存储器的一种行之 有效的测试技术。存储器内建自测试技术主要是通过在待测存储器外围加入 BIST 电路，自动实现测试数据的内部生成、向量施加和结果分析，从而达到在电路内 部检测存储器故障的目的。存储器内建自测试技术凭借其操作简单、覆盖率高、 成本低等优点成为目前存储器测试的主流技术。 本文围绕 SoC 中的嵌入式存储器内建自测试技术主要完成了以下几项工作： （1）提出了改进的 March LR 测试算法。通过从测试时间、故障覆盖率和故 障覆盖范围三个方面对比分析各种存储器测试算法的优劣，得到最优测试算法 March LR 算法。针对 March 算法无法覆盖地址内字间故障的缺陷，结合故障模型 的相关理论知识，提出了改进的 March LR 测试算法。改进后的算法在保持对原有 故障的覆盖上，增加了对地址内位间故障的覆盖，提高了故障覆盖范围和故障覆 盖率。 （2）设计了以 SRAM 为待测存储器，以改进的 March LR 算法为测试算法的 存储器内建自测试电路。本文对测试电路的各个组成部分进行了模块化设计，其 中详细设计了作为测试算法硬件实现的内建自测试控制器，最后编写了测试算法 自定义文件，应用相关工具进行了代码的生成和插入。 （3）设计了多存储器的存储器内建自测试电路。在单存储器内建自测电路的 基础上，提出了多存储器情况下的测试电路设计方法，集中解决了测试输入输出 占用引脚信号过多的问题。 （4）实现了单存储器内建自测试电路的仿真与验证。对设计出的单存储器自 建自测试电路进行了仿真验证，并对照波形图详细分析了测试算法的执行过程。 仿真结果表明本文设计的测试算法和 MBIST 电路可以检测更多的存储器故