基于蒙特卡罗方法的XRF探测器立体角分析.PDF

第38 卷 第6 期 核 技 术 Vol.38, No.6 2015 年6 月 NUCLEAR TECHNIQUES June 2015 基于蒙特卡罗方法的XRF 探测器立体角分析 刘合凡 葛良全 谢希成 赵剑锟 罗耀耀 （成都理工大学地学核技术四川省重点实验室 成都 610059 ） 摘要 为研究探测器立体角在X 射线荧光(X-ray fluorescence, XRF)分析仪的设计对测量结果的影响，运用蒙 特卡罗方法对XRF 仪进行建模。结果表明，探测器脉冲计数随着探测器与样品之间距离的增大指数衰减；随 着探测器立体角的增大，特征峰计数非线性增大，源峰探测效率指数递减；探测器本征探测效率与探测器立 体角无关。本文研究方法和结论可为一些XRF 仪的设计提供参考。 关键词 探测器立体角，X 荧光分析，蒙特卡罗方法，拟合优度 中图分类号 TL8 ，O657.3 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2015.hjs.38.060502 在元素分析领域，X 射线荧光(X-ray fluorescence, XRF)分析仪是最重要的分析仪器类型 之一，广泛应用于采矿、环保、石化、材料、食品 等领域[1–5] 。XRF 测量中，仪器计数率不仅与待测 试样本身的物理化学性质有关，还与激发源、试样、 探测器的相对几何位置有关[6–8] 。探测器的安放位置 不同，所形成的探测器立体角不同，从而使仪器探 测效率也不一样。在可接受误差范围内，应尽量提 高仪器荧光计数和探测效率，进而提高分析精度和 缩短分析时间。而经大量学者研究，美国洛斯阿拉 图1 X 射线荧光测量中立体角关系推导示意图 莫斯实验室的通用大型蒙特卡罗程序 MCNP 软件 Fig.1 Schematic diagram of deriving the desired X-ray 已经成为核技术领域谱数据模拟和分析的重要软件 collection angle in XRF measurement. 之一[9–13] 。该软件的模拟数据在其相对误差小于5%  设r 为探测器探测光子的有效半径， 为d S 的 的前提下，运用建模模拟计算方法预测谱线强度的   法线和d S 的法线夹角，d S 为探测器探测光子的有 准确度约达95%，而用该方法模拟未知成份样品， 效面积，x 为样品中待测元素特征X 射线出射点离 其预测准确度也能达90%–97%[14] 。本文运用MCNP  o 点的距离，d S 为样品中距待测元素特征X 射线 软件参考实际荧光分析仪的具体情况进行建模，通 出射点为x 处探测器探测光子的有效面积投影，R0 过改变探测器立体角得到模拟计算结果，以观察探 为出射X 射线离探测器晶体圆心o的距离。根据高 测器立体角对XRF 测量结果的影响情况。 斯投影定理，探测器的立体角为：   1 理论基础 d  d S  d S cos (1)