可靠性试验的分类.pptVIP

第四章 元器件可靠性试验与评价技术 4.1 元器件可靠性试验 定义： 目前把测定、验证、评价和分析等为提高元器件可靠性而进行的各种试验，统称为可靠性试验。 应用于： 研制阶段：暴露设计、材料、工艺阶段存在的问题和有关数据，对设计者、生产者和使用者非常有用； 设计定型阶段：是否达到预定的可靠性指标； 生产阶段：评价元器件生产工艺和过程是否稳定可控； 使用阶段： 了解不同工作、环境条件下的失效规律、失效模式、失效机理，以便进行纠正和预防，提高元器件的可靠性。 可靠性试验的分类 试验项目 可靠性试验方法的标准及检索方法 相关标准 中国国家标准GB 中国国家军用标准GJB 日本工业标准 日本电子机械工业协会标准 国际电工委员会标准IEC 英国标准BS 美国军用标准MIL 美国电子器件工程联合会标准JEDEC 俄罗斯国家标准 检索方法：图书情报/中文数据库/万方数据资源系统 万方数据资源系统/ 中外标准/ 电子元器件与信息技术/ 高级检索 4.2 可靠性基础试验 组成各种可靠性试验的最基本的试验单元叫做可靠性基础试验 类型(P71 表4-3): 电应力+热应力试验 气候环境应力试验 机械环境应力试验 与封装有关的试验 与引线有关的试验 与标志、标识有关的试验 特殊试验 辐射应力试验 特殊试验 声学扫描显微分析(SAM) 原理：超声波在介质中传输时，若遇不同密度或弹性系数的物质，会产生反射回波，其强度因材料密度不同而有所变化。在有空洞、裂缝、不良粘接和分层剥离的位置产生高的衬度，因而容易从背景中区分出来。 用途： 检测电子元器件、材料及PCB/PCBA内部的各种缺陷(如裂纹、分层、夹杂物、附着物及空洞等) 扫描电子显微镜分析： 用途： 金属化层和键合质量缺陷，电迁移、层间短路、硅片的层错和位错等 原理： SEM的结构原理 4.3 可靠性寿命试验 4.3.1 定义和分类: 为评价元器件产品寿命特征值而进行的试验 结束方式：定时试验 定数试验 试验时间： 长期寿命试验 贮存寿命：3~5年 工作寿命：240h?? 加速寿命试验 4.3.2 指数分布寿命试验方案的确定: 经工艺筛选剔除早期失效后,元器件的失效分布已进入偶然失效期,其寿命分布接近指数分布,或威布尔分布； 当威布尔分布的形状参数m接近于1时，威布尔分布可以用指数分布来近似。 泊松随机过程的概率密度分布 威布尔可靠性函数是： （3-16） 1. 抽样方法和数量 特点：样品数量大，试验时间短，试验结果精确，但测试工作量大，试验成本高。 统筹考虑。 2. 试验应力类型和应力水平 原则： 关于类型：选择对元器件失效影响最显著或最敏感的应力类型，且这些应力所激发的失效机理应与实际使用状态的失效机理相同。 关于应力水平：应选择元器件的技术标准规定的额定值。 3. 试验周期的确定 自动监测、连续测试 间歇监测与记录 相隔一定时间(测试周期)进行一次测试 基本原则： 不要使元器件失效过于集中在一、两个测试周期内，最好有5个以上能测试到失效元器件的测试点，每个测试点上测试到的失效元器件数应大致相同。 根据失效进程的快慢、失效分布特点确定合适的测试周期，不一定是等距，可进行调整，例如指数分布时可取初期短，后期长的方案。 4. 试验截止时间—截尾试验—不得中途变动 低应力寿命试验：定时截尾(取平均寿命的1.6倍以上的时间) 高应力寿命试验：定数截尾(累积失效数或概率达到规定值， 一般应在30%,40%或50%以上) 若元器件寿命分布服从指数分布，则有： 5. 失效标准或失效判据 以元器件技术规范中所规定的技术标准作为失效标准 6. 需测量的参数和测试方法 选择对失效机理的发展起指示作用的灵敏参数； 多参数情况下，确定先后顺序； 测量方法不能起促进、减缓或破坏作用，更不能引入新的失效机理； 注意测试恢复时间，大气条件下2~4h，或按相关技术标准的规定进行。 7. 数据处理方法：图估法，数值解析统计方法 4.3.3 寿命试验中的一些技术问题: 试验方法：避免高低不分，好坏不分 测量方