智能仪器设计-东南大学设备处.DOC

智能仪器设计技术 实验指导书 东南大学仪器科学与工程学院 2013年3月 前 言 本实验核心模块使用的微处理器为STM32F103RCT6。STM32系列微处理器基于ARM HYPERLINK /view/1833994.htm \t _blank Cortex-M3内核，专门用于高性能、低成本、低功耗的嵌入式应用系统。按性能分为两个系列：32位STM32F103“增强型”和16位STM32F101“基本型”。增强型时钟频率为72MHz，基本型时钟频率为36MHz；两个系列都内置Flash 、SRAM和12位ADC，不同的是存储器容量、外设接口数量和组合方式。 STM32F103RCT6微处理器拥有51个输入/输出引脚，内置DMA、PWM（电机控制）以及POR/PDR（上电/断电复位）、PVD（可编程电压监测器）、WDT（ HYPERLINK /wiki/%E7%9C%8B%E9%97%A8%E7%8B%97%E5%AE%9A%E6%97%B6%E5%99%A8 \o 看门狗定时器 \t _blank 看门狗定时器）、ADC（2个12位）、温度传感器等外围设备，具有CAN、I2C、SPI、UART/USART、USB等9个通信接口；内置Flash 256KB (×8)、SRAM 48KB (×8)。工作温度-40°C～ 85°C，电源电压2V～3.6V。 本教程配合“Lab8000智能仪器设计（通用微控制器）实验系统”和“ HYPERLINK /view/1833994.htm \t _blank Cortex-M3实验扩展模块”使用，适用于电类专业大学本科生“智能仪器设计技术”课程实验。全书共有十三个实验，采用模块化设计，由浅入深，循序渐进，帮助学生快速入门STM32，训练和提高学生在软、硬件设计调试方面的能力。 实验的操作过程在设置上尽量接近实际应用系统的设计调试过程，学生做完实验后，能够独立进行实际应用系统的软、硬件设计调试。 祝学云 刘 莹 2013年1月 仪器科学与工程学院 PAGE \* MERGEFORMATi 目 录 TOC \o 1-3 \h \z \u HYPERLINK \l _Toc354755369 第一章 实验设备介绍 PAGEREF _Toc354755369 \h 1 HYPERLINK \l _Toc354755370 一、硬件设备 PAGEREF _Toc354755370 \h 1 HYPERLINK \l _Toc354755371 二、软件平台 PAGEREF _Toc354755371 \h 10 HYPERLINK \l _Toc354755372 第二章 智能仪器实验 PAGEREF _Toc354755372 \h 11 HYPERLINK \l _Toc354755373 第一节 基础实验 PAGEREF _Toc354755373 \h 11 HYPERLINK \l _Toc354755374 实验一 软硬件平台基本操作实验 PAGEREF _Toc354755374 \h 11 HYPERLINK \l _Toc354755375 实验二 键盘扫描显示实验 PAGEREF _Toc354755375 \h 24 HYPERLINK \l _Toc354755376 实验三 16X16点阵显示实验 PAGEREF _Toc354755376 \h 30 HYPERLINK \l _Toc354755377 实验四 TFT彩屏显示实验 PAGEREF _Toc354755377 \h 38 HYPERLINK \l _Toc354755378 第二节 A/D转换实验 PAGEREF _Toc354755378 \h 43 HYPERLINK \l _Toc354755379 实验五 片外ADC实验 PAGEREF _Toc354755379 \h 43 HYPERLINK \l _Toc354755380 实验六 片内ADC实验 PAGEREF _Toc354755380 \h 48 HYPERLINK \l _Toc354755381 第三节 数据处理实验 PAGEREF _Toc354755381 \h 54 HYPERLINK \l _Toc354755382 实验七 数字滤波实验 PAGEREF _Toc354755382 \h 54 HYPERLINK \l _Toc354755383 实验八 非线性校正及标度变换实验 PAGEREF _Toc354755383 \h 58 HYPERLINK \l _Toc354755384 第四节 温度测量实验 PA