一种结合硬件特征的并行内存故障检测方案-计算机工程.pdf

第40 卷 第3 期 计 算 机 工 程 2014 年3 月 Computer Engineering March 2014 Vol.40 No.3 文献标识码文献标识码：：A TP306 文献标识码文献标识码：： 中图分类号中图分类号：： 文章编号文章编号：：1000--3428(2014)03--0310--05 中图分类号中图分类号：： ·开发研究与工程应用·开发研究与工程应用·· 文章编号文章编号：： -- -- -- ··开发研究与工程应用开发研究与工程应用·· 一种结合硬件特征的并行内存故障检测方案一种结合硬件特征的并行内存故障检测方案 一种结合硬件特征的并行内存故障检测方案一种结合硬件特征的并行内存故障检测方案 1 1,2 胡胡 蝶蝶 ，吴俊敏，吴俊敏 胡胡 蝶蝶 ，，吴俊敏吴俊敏 (1. 中国科学技术大学计算机科学与技术学院，合肥 230027 ；2. 中国科学技术大学苏州研究院，苏州 215123) 摘摘 要：要：针对March 类内存检测算法越来越复杂、检测时间越来越长，且更适用于对嵌入式内存芯片的检测等问题，提出一种结 摘摘 要要：： 合硬件特征的并行内存故障检测方案。该方案包括2 种并行检测方法：(1)根据DDR2 的结构和工作原理设计的芯片级并行，可以 并行检测一个DDR2 内部的多个内存芯片。(2)根据访存控制器的结构和工作原理设计的访存控制器级并行，可并行检测多个DDR2 内存条。对于芯片级并行，访存带宽越大，即并行检测的芯片个数越多，并行效果越好，从1 个芯片到并行检测 8 个芯片，内存 的检测时间几乎是呈线性递减的。对于访存控制器级并行，访存控制器数量越多并行效果越好，从1 个LMC 到2 个LMC ，内存 的检测时间几乎减少了一倍。实验结果表明，2 种并行检测方法不仅能够成倍加快检测速度，而且更适用于用户对内存的检测。 关键词关键词：故障模型： ；March 算法；DDR2 内存条；芯片级并行；访存控制器级并行 关