GB/T 1553-2009硅和锗体内少数载流子寿命测定　光电导衰减法.pdf

ICS29.045 H 80 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT1553 2009 代替 / — GBT1553 1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法 Testmethodsforminoritcarrierlifetimeinbulk ermanium y g andsiliconb measurementofhotoconductivitdeca y p y y 2009-10-30发布 2010-06-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法 ／ — ＧＢＴ１５５３ ２００９  中 国标 准 出版 社 出版 发 行 北京复兴门外三里河北街 号 １６ 邮政编码： １０００４５ 网址 ｗｗｗ．ｓｃ．ｎｅｔ．ｃｎ ｐ 电话： ６８５１７５４８ 　 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷 各地新华书店经销  开本 ／ 印张 字数 千字 ８８０×１２３０ １１６ １ ２４ 　 　 年 月第一版 年 月第一次印刷 ２０１０ １ ２０１０ １ 　  书号：