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邓 B卷筇 1 V o1.B . Ne
.
1989年 2 ENVIRoNMENTAL CHEM】STRY f’ebruarv 1989
有机硅等离子体聚合物复合膜
的制备及氧氮选择透过性能
后晓准 孙 求实 毕经京 施艳 荞
(中国科学 院化学研 究所) 。
摘 耍
四种有机硅单件, 即乙烯基三 甲基硅烷 (VTMS) 乙烯基 甲基= 乙基硅烷 (~MDES)
八 甲基环 四硅氧烷 (u ·)和卉 甲基二硅氧烷 ( 计 -在 t3.50MHz钟罩 式等离子体发生器 中,
分剐进行等离子捧象合,象合物讥积在多孔聚丙烯底柱cel d24o1表面.在放电琦率50w ,
体 系压力 12— 3OP8,反应耐何 15—60rain时,形戚 具有氧氨选择透过功能 的有机硅等离子体
聚合钎复台膜 .其氧气遗过建率J0 是 2.7--5.x1D6‘c皿3(STP)/cm2·,:c皿Hg,氧羹分离
系数 aolN是3.7B--4.OT.等离于博聚台橱层的厚度约口.1--0.2¨m.根据它们的扭描 电镜jf}[
片,红外光谱和元素分析数据 ,讨论丁具有气捧选择遗过性能 的等离子件聚合骑复台嗅的形
戚过程 |底膜性质对靛合膜性艟的 响 |等离子体寨合物层的化学结抽和组成 ,以及它们同
复杂等离子体辩奢厦应历程之 间的关系
用于气体分离的高分子材料中,聚有机硅氧烷有较高的气体透过系数,其氧气透过
系数 P02为 2—3×10 era。(STP) ·cm/cm ·s·emHg, 因而受到人们的重视 .
但它 的气体 分离性又低于一般的结晶高聚物 ,氧氮 分离系数 %,N仅为 2左右 .为
此 , 人们用了不少方法来改善它的气体分离性质 , 以期提高气体分离系数 . 近年
来.用等离子体 聚台制备超薄复台膜逐渐引起人们附兴趣,用这种方法翩备 的 高 分子
膜 ,有高度交联结构 ,表面均匀、致密 ,无针孔 ,可望在气体分离中得到应用 .
本工作用不同类型的有机硅单体 ,进行等离子体聚合,聚 占物沉积在多孔聚丙烯底膜的
表面,形成具有氧氮选择透过性的有机硅等离子体聚台物复台膜.研究表 明 这几种复
合膜有较高的氧氮分离系数,其化学蛆成和结构不同于用普通化学方法制备的聚有机硅
氧烷.同时还研究了底膜的形态、孔隙大小等对复台膜的气体适过性能和表面形态的影
响.以及具有氧氨分离功能的复台膜的形成过程.
实 验 分
1. 材料
单体 乙烯基三 甲基硅烷 (VTMS) , 日本信越化学 出品} 乙烯基 甲璀二 乙基硅烷
(VMDES),实验室台成 八甲基环四硅氧烷 (D ),北京化工厂出品}六甲基二硅
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l期 插晓淮并:有机硅等离f体聚台物复合艇的制备及氧氯选择透过性能
氧烷 (M ) ,北京化五厂 出品.
底基 聚丙烯多孔膜Celgard2400和 34叭 聚融 tPs1多孔膜,玻璃板,称量纸.
2. 实验步骤
用 13.56MHz,PD一2型 钟罩式等离子体沉积装置 (同 s。mc0公司制造)进行等离
子体聚台.将底基置样 品台上 将体系抽真空 当压力为0.5Pa时进行辉光放 电.5rain
后有机硅单体通过单体入 口进入反应器 内,严格控制反应时间 .体系压力P
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