第十三章_原子发射光谱法.pptVIP

设S和S1分别为分析线和内标线得黑度，由上式得： 在同一感光板上曝光的时间相等，当分析线对的波长、强度相近时，分析线对的黑度差为： 上式与内标法光谱定量分析的基本公式结合得： 2. 标准加入法 在测定微量元素时，若不易找到不含被分析元素的物质作为配制标准样品的基体，此时可以在试样中加入不同已知量的被分析元素来测定试样中的未知元素的含量，这种方法称为标准加入法。 设试样中被分析元素的含量为CX,在试样中加入不同已知浓度C1、C2、C3…Ci的该元素，然后在同一实验条件下摄谱。再测量分析线对的相对强度R，以R对不同浓度Ci作图得到一直线。将直线外推，与横坐标相交的截距绝对值为试样中分析元素的含量CX。根据内标法的基本公式： 在b=1时 当R=0时 六. 光谱的背景及其扣除 光谱背景是指在线状光谱上，叠加着由于某些原因产生的连续光谱、某些分子带状光谱等所造成的谱线强度（摄谱法表现为黑度）变大的现象。 光谱背景的来源 分子的辐射在激发光源作用下，试样或电极材料与空气作用生成的分子氧化物、氮化物等分子（也有自由基）发射的带状光谱。如CO、SiO、AlO等这些分子化合物解离能很高，在电弧高温中发射分子光谱。 连续辐射在经典光谱中炽热的电极头，或蒸发过程中被带到弧焰中去的固体质点等炽热的固体发射的连续光谱。 谱线的扩散分析线附近有其他元素的强扩散性谱线（即谱 线宽度较大），如Zn、Sb、Bi、Mg、Al等元素含量高时会有很强的扩散线。 电子与离子复合过程也产生连续背景。连续背景都随电子密度的增大而增加，是造成ICP光源连续背景辐射的重要原因。 2. 背景的扣除 摄谱法 须要测出背景的黑度SB，这时测出的被测元素谱线黑度为分析线与背景相加的黑度S(L+B）由乳剂特性曲线查出lgI(L+B）与IB，二者相减，即可得出IL。再以类似的测量与计算，可得到内标线谱线强度IIS。注意：背景的扣除不能用黑度直接相减，必须用谱线强度相减。 光电直读光谱法光电直读光谱仪检测器将谱线强度积分的同时也将背景积分，可以很方便地扣除背景。 七.基体效应及光谱添加剂 除了光谱添加剂外所附随物质所引起的联合干扰，称为基体效应（matrix effect）。基体效应会影响激发光源的蒸发温度和激发温度。基体组分还会影响分析元素在激发源中的化学反应性能。即影响分析组分的蒸发和电离等。基体效应会改变分析元素谱线的强度，引起分析结果的误差。为了消除或减少基体效应，在光谱分析中，常常根据试样的组成、性质及分析的要求，选择性地加入具有某种性质的添加剂。 1. 光谱载体 进行光谱定量分析时，往往在样品中加入一些有利于分析的物质，这些物质称为载体。它们多是一些化合物、盐类、碳粉等。 控制试样中元素的蒸发行为。通过化学反应，使试样中被分析元素从难挥发性化合物（主要是氧化物）转变为沸点低、易挥发的化合物，如卤化物、硫化物、使其提前蒸发，显然可以提高分析的灵敏度。如，用一些氯化物做载体，可使熔点很高的ZrO2、TiO2、稀土物氧化等由氧化物转变为易挥发的氯化物。 载体量大可控制电极温度，从而控制试样中元素的蒸发行为并可改变基体效应。基体效应是试样组成和结构对谱线强度的影响，或元素间的影响。一个非常成功的例子是有人在测定U3O8中的杂质元素时加入Ga2O3作载体，它是中等沸点的物质，不影响试样中杂质元素B、Cd、Fe、Mn等的挥发，但大大抑制了沸点颇高的氧化铀的蒸发，因此铀的谱线变得很弱而且相当少，很大程度上避免了铀的干扰。 稳定与控制电弧温度 电弧温度由电弧中电离电位低的元素控制，可选择适当的载体，以稳定与控制电弧温度，从而得到对被测元素有利的激发条件。 电弧等离子区中大量载体原子蒸气的存在，阻碍了被测元素在等离子区中自由运动范围，增加它们在电弧中的停留时间，提高了谱线强度。电弧比较稳定，大大减小直流电弧的漂移，从而提高了分析准确度。 2. 光谱缓冲剂 试样中加入一种或几种辅助物质，用来抵偿试样组成的影响，这种物质称为光谱缓冲剂。它也是电弧法经常使用的，要使试样或标样组成完全一致，在实际工作中往往是难以办到的。因此加入较大量的缓冲剂以稀释试样，减小试样组成的影响，以加入炭粉的情况最为普遍，其他化合物用得也相当多。当然，它们也能起到控制电极温度与电弧温度的种种作用。因此，载体与缓冲剂很难截然分开，此两名称也因而常常被混用。 自测题 1．原子发射光谱是由下列哪一种跃迁产生的? A. 辐射能使气态原子外层电子激发； B. 辐射能使气态原子内层电子激发； C．热能使气态原子外层电子激发； D．热能使气态原子内层电子激发。 2．下列以光谱项符号表示的原子中电子能级的跃迁,符合光谱选律