实验一基号本门电路逻辑功能测试.pptVIP

数字电子技术实验;实验一 基本门电路逻辑功能测试 实验二 中规模组合逻辑电路应用（一） 实验三 中规模组合逻辑电路应用（二） 实验四 利用EDA软件进行组合逻辑电路的设计 实验五 触发器设计及应用 实验六 计数器的设计及应用 实验七 555定时器的应用 实验八 实验考试;实验一 基本门电路逻辑功能测试; 74系列门电路芯片外形如图1-1所示，管脚编号方法：管脚向下半月形缺口向左，从下排自左向右顺序编号，上排自右向左顺序编号。;按集成度分：小规模（SSI）：每片1—10个器件， 中规模（MSI）：每片10—100个器件 大规模（LSI）：每片数千个器件 超大规模（VLSI）：每片10000器件 按电路结构和工作原理分： 组合逻辑电路：无记忆，输出与以前状态无关 时序逻辑电路：有记忆，输出与以前状态有关 ;3. 组合逻辑电路的设计;实验原理; ; 逻辑变量：取值仅有逻辑“0”和逻辑“1” 逻辑代数：按一定逻辑关系进行代数运算（与、或、非、与非、异或……) ;74LS00;四、实验内容及步骤;实验内容及步骤;实验内容及步骤;表1.1 门电路逻辑功能表 ;解：①逻辑抽象;②卡诺图化简; 用74LS00与非门电路组成的半加器电路如图3-1所示。;其中: A---加数；B---被加数； S---本位和；C---进位。;实验一 基本门电路的逻辑功能测试;