在形式验证和ATPG中的布尔可满足性问题-中国科技论文在线.PDFVIP

第 15卷 第 1O期 计算机辅助设计与图形学学报 Vo1．15，No．10 2003年 1O月 JOURNAL OF COMPUTER—AIDED DESIGN COMP UTER GRAPHIC~S Oct．，2003 在形式验证和 ATPG中的布尔可满足性问题 邓雨春 杨士元 王 红 薛月菊 (清华大学自动化系 北京 100084) 摘 要 介绍布尔可满足性(sAT)求解程序在测试向量自动生成、符号模型检查、组合等价性检查和 RTL电路设计 验证等电子设计自动化领域中的应用．着重阐述如何在算法中有机地结合电路拓扑结构及其与特定应用相关的信 息，以便提高问题求解效率．最后给出下一步可能的研究方向． 关键词 布尔可满足性；形式验证；测试向量自动生成；符号模型检查；等价性检查；RTL设计 中圈法分类号 TP301 Formal Verification and ATPG Using Boolean Satisfiability Deng Yuchun Yang Shiyuan Wang Hong Xue Yueju (Department ofAutomation，Tsinghua University，Beijing 100084) Abstract Boolean Satisfiability is probably the most studied of combinatorial search problems and finds a number of applications in electronic design automation(EDA)．In recent years，quite a few new and efficient SAT solvers have been developed，which make it possible solving much larger problem instances．We highlight the use of SAT algorithm to solve lots of EDA problems in such diverse oxefls as test pattern generation，symbolic model checking，combinational equivalence checking，and verification for RTL design．In addition．it iS stressed how the useful irdormation of drcuit structure and specific problems to be solved is introduced to accelerate the SAT based algorithms． Key words Boolean satisfiability；formal verification；automatic test pattern generation(ATPG)； sym bolic model checking；equivalence checking；RTL design 近年来，特别是近6年来，许多EDA公司和大 1 引 言 学的研发组织为了解决EDA中的各种问题，如测试 向量自动生成(Automatic Test Pattern Generation， 数字电路设计，特别是芯片设计，一方面对电路 ATPG)[1-5J、组 合 等 价 性 检 查 (Combinational 的规模、复杂度和可靠性等不断提出新要求，另一方 Equivalence Checking，CEC)L 6-7J和有限模型检查 面由于竞