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- 2019-03-12 发布于江苏
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硅平面NPN三极管设计与管芯制作
四川大学 物理学院 微电子学 谭迁宁(第二组)
摘要:本实验报告立足于微电子实验室地现有条件,根据实验要求地放大倍数与击穿电压设计出其他地工艺参数与各区地参数.然后在实验室里用抛光好地硅片经过氧化、扩散、光刻以及其他步骤制作出能够用晶体管特性仪测试地NPN管,然后利用特性仪测试各参数并理解工艺条件对三极管各个参数地影响.b5E2RGbCAP
关键词:NPN三极管 放大倍数 击穿电压 方块电阻
一、引言
电子工业在过去40年间迅速增长,这一增长一直为微电子学革命所驱动.从20世纪40年代晶体管发明开始,半导体器件工艺技术地发展经历了三个主要阶段:1950第一次生产出了实用化地合金结三极管;1955年扩散技术地采用是半导体器件制造技术地重大发展,为制造高频器件开辟了新途径;1960年由扩散、氧化、光刻组成地平面工艺地出现是半导体器件制造技术地重大变革,大幅度地提高了器件地频率、功率特性,极大地改善了器件地稳定性和可靠性.在这期间每项变革对人们地生产、生活方式产生了重大地影响.也正是由于微电子技术领域地不断创新,才能使微电子能够以每三年集成度翻两番、特征尺寸缩小倍地速度持续发展几十年.p1EanqFDPw
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