XilinxXC4000系列FPGA自动测试平台搭建.PDFVIP

( SOC )2010 26 4-2 博士论坛 《微计算机信息》嵌入式与 年第 卷第 期 文章编号:1008-0570(2010)04-2-0010-03 Xilinx XC4000 系列FPGA 自动测试平台搭建 Building the Auto test platform of Xilinx XC4000 FPGAs 1,2 1 1 (1. 中国科学院沈阳自动化研究所;2. 中国科学院研究生院) 刘肄倬 杨志家 王 宏 LIU Yi-zhuo YANG Zhi-jia WANG Hong 摘要 随着 的发展 测试技术也得到了相应的发展 因为 的结构和传统专用集成电路 有着本质的区 : FPGA ,FPGA 。 FPGA (ASIC) 别 在 中不能形成可测性设计电路 但它的可编程能力决定了其测试电路可以通过编程的方法来实现 本文讨论了 , FPGA , 。 系列 中 资源和互连资源的自动测试方法 而且提出了一种新的测试资源坐标定位方法 使得由软 Xilinx XC4000 FPGA CLB 。 , 件仿真向器件真实测试取得了突破 并搭建了硬件测试平台 。 。 关键词 测试平台 互连 自动测试 : XC4000 FPGA; ; ; 中图分类号: TN402 文献标识码: A Abstract: With the development of FPGAs, testing technology for FPGAs has been developing. Because the structures of FPGAs are different from ASIC, the DFT circuits cannot be implemented. Its ability of programmable determines that the test circuits can be im- 技plemented by programming. This paper discusses the testing methods for interconnects and CLB of Xilinx XC400 serial FPGAs. A new TC to DC method is provided. The hardware flat is built. Testing a real FPGA chip is achieved. 术Key words: XC4000 FPGA; clb interconnects; automation test platfom 创 引言