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- 2019-03-15 发布于浙江
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第22卷 第6期 电子设计工程 2014年3月
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基于模拟IC测试的任意波形发生器设计与实现
陈芳
(电子科技大学微电子与固体电子学院,四川成都610054)
摘要:面向模拟IC自动测试仪设计并实现了一种由FPGA控制的任意波形发生器。设计采用闭环控制的方法.保证
任意波形发生器输出信号的高精度。任意波形发生器波形数据存储深度最大可达128
MB。采样精度为16位,最高采
样率可达到160 Hz~1 mV~20
MHz,输出信号频率为l MHz,峰峰值范围为20 V,幅度偏置范围为±2.5V,精度可
达到±0.1dB。实际测试表明该设计满足模拟IC测试仪的项目要求。
关键词:模拟IC测试仪;任意波形发生
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