导致测试治具测试值偏差的基本原因.pptVIP

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2019-07-05 发布于湖北
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导致测试治具测试值偏差的基本原因.ppt

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其他：当R、L测试值偏差为99.99%，D、Q测试值为2V左右及电容测试值为0时，并且几个器件均有同一测试针时，可能原因：该测试治具的测试针坏掉，或测试点接触不良，或PCB上铜箔断裂，或ViaHole与铜箔之间Open;短路与IC错件、反装会引起大片不良，应优先考察;以上不良用万用表检查时，请将万用表的针放在测试点处，而不是放在器件的两端。 IC空焊不良(以TestJet测试)：测试治具的测试值偏小，可能原因：1)IC的此脚空焊;2)测试针接触不良;3)从测试点至IC脚之间Open;4)IC此脚的内部不良(可能性极少); 测试治具的测试值偏大，可能原因：1)有短路现象;2)IC此脚的内部不良(可能性极少)。 a href=/工装夹具/a a href=/测试治具/a 导致测试治具测试值偏差的基本原因有一些状况不是只用刷子清洁就可以，因此用其他种类的溶剂或清洁化剂将会是最后的替代方法。建议方法是只要清洁针头，就是从测试治具上移除测试针，捆在一起只用针头泡在浅浅的清洁剂中大约五分种，用软毛擦试，移除残留物，然后晒干它，这样就可以安装回去继续测试。测试治具的测试值偏差超差比较大，则可能原因：1)器件坏掉;2)测试针坏掉(与该针相连的器件均超差比较大);3)测试点上有松香等绝缘物品;4)PCB上铜箔断裂，或ViaHole与铜箔之间Open;5)错件、漏件、反装;6)器件焊接不良。