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2014年9月1日 现代电子技术 Sep.2014
第37卷第17期 ModernElectronicsTechnique Vol.37 No. 17
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基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片
测试系统的研究设计分析
贾应炜
（陕西工业职业技术学院，陕西 咸阳 712000）
摘 要：基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计研究对改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象
有积极意义。基于ISO14443A协议，利用RFID集成电路芯片设计了一个系统，从软硬件两个方面进行设计调试，并配合优
化方案解决设计问题，最终结果表明设计系统运行效果佳，稳定性好，对于工业集成电路芯片测试系统的研究有一定价值。
关键词：集成电路芯片测试系统；设计；ISO14443A协议；RFID集成电路
中图分类号：TN06⁃34 文献标识码：A 文章编号：1004⁃373X（2014）17⁃0097⁃03
DesignofRFIDintegratedcircuitchiptestingsystembasedonISO14443Aprotocol
JIAYing⁃wei
（ShaanxiPolytechnicInstitute，Xianyang 712000，China）
Abstract：DesignofRFIDintegratedcircuitchiptestingsystembasedonISO14443Aprotocolhasapositivesignificance
foreliminatingthehighcostandperformancewastephenomenaofcurrentATE.AsystemwasdesignedbymeansofISO14443A
protocolandRFIDintegratedcircuitchip.Inthedesignprocess，thedesigndebuggingofthehardwareandsoftwarewasconducted，
andsomedesignproblemsweresolvedbytheaidoftheoptimizationscheme.Thefinalresultsshowthatthesystemworkswell
andhashighstability.Ithasacertainvaluefortheresearchoftheindustryintegratedcircuitchiptestingsystem.
Keywords：ICchiptestsystem；design；ISO14443Aprotocol；RFIDintegratedcircuit
（RC522）等为主，具体如图1所示。软件部分以上位机
0 引 言
控制程序、CPIB扫描驱动、串口通讯及芯片初始化的传
随着国内IC行业的迅速崛起与发展，集成电路自 递设置为主。
动测试机（AutomaticTestEquipment，ATE）的生产与发
展也逐步壮大。作为测试器件、电路板和子系统的重要
设备，ATE通过计算机控制实现自身职能。目前主要使
用的
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