平面晶体谱仪弯曲谱线波长定标方法.pdf

第 卷第 期 强 激 光 与 粒 子 束 ， ２６ １ Ｖｏｌ．２６ Ｎｏ．１ 　 　 年 月 ， ２０１４ １ ＨＩＧＨ ＰＯＷＥＲＬＡＳＥＲＡＮＤＰＡＲＴＩＣＬＥＢＥＡＭＳ Ｊａｎ． ２０１４ 　 　 平面晶体谱仪弯曲谱线波长定标方法 赵 阳， 青 波， 熊 刚， 胡智民， 韦敏习， 杨国洪， 张继彦， 杨家敏 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 （中国工程物理研究院 激光聚变研究中心，四川 绵阳 ６２１９００） 摘 要： 为了满足激光等离子体 射线光谱测量的需要，提出了一种利用平面晶体谱仪记录得到的弯 Ｘ 　　 　 　 曲谱线来进行波长标定的新方法。传统的参考谱线法需要已知两条以上谱线的确切波长才能进行波长标定， 而利用弯曲谱线可以在不知道任何谱线信息的情况下进行波长标定。通过对实验中所获得的铝等离子体 Ｈｅ α 自发射谱线弯曲图像的分析，得到在目前所使用的谱仪条件下，该方法的波长定标精度可以达到 －４ 。 ２×１０ ｎｍ 关键词： 激光等离子体； 平面晶体谱仪； 参考谱线； 弯曲谱线 　　 　 　 　 　 中图分类号： 文献标志码： ： ／ Ｏ４３４ Ａ 犱狅犻１０．３７８８ＨＰＬＰＢ２０１４２６．０１２００９ 　　 　 　　　　 　 　　 ［］ ［］ １ ２ 　　晶体谱仪分为平面晶体谱仪 和弯曲晶体谱仪 ，平晶谱仪由于结构简单、易操作等优点，已成为激光等 离子体研究中常用的诊断设备之一，它配合 射线 、 射线胶片和 射线条纹相机等已能满足不同实验 Ｘ ＣＣＤＸ Ｘ ［ ］ ［］ ３６ ７ 的要求 。在 射线光谱分析 中，要确切知道谱线波长与谱线位置的关系，必须进行波长定标。作为平面 Ｘ ［ ］ ８９ 晶体谱仪波长标定的一般方法，传统的参考谱线法 需要已知两条以上谱线的确切波长才能进行波长标定。 但是这种方法在实际应用中存在一些局限和不足。例如，为了得到参考谱线，在待测光源中掺入能发射特征光 谱的杂质，如 、 、 等低原子序数元素，它们的类氢和类氦谱线结构简单，容易分辨而且波长已经过精确 ＡｌＭ Ｓｉ ｇ 标定，适合作为参考谱线，但是掺入的杂质有可能影