新生儿缺氧缺血性脑病的儿c诊断.pptVIP

新生儿缺氧缺血性脑病的CT诊断 概述 新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是指在围产期窒息而导致脑的缺氧缺血性损害，并在临床上出现一系列脑病表现，部分病人可有不同程度神经系统后遗症。本症不仅严重威胁着新生儿的生命，并且是引起病残儿中最常见的病因之一。 头颅CT对脑部的改变极为敏感，可以早期发现并判断病变的程度,为临床诊疗提供可靠的依据。 脑部对缺氧缺血的易感区 细胞丰富、血管多、代谢率高的区域，因其需氧量高，故对缺氧缺血的敏感程度也高。 动脉末梢的边缘区，由于供血少，血压低，故也成为缺氧缺血的好发部位。 早产儿在脑室管膜下的生发层；足月儿为大脑皮层。 早产儿为脑室周围白质区；足月儿为顶颞部（大脑前、中、后动脉末梢的交界区）。 选择易损性：由于脑组织内在特性（解剖或代谢）的不同，而使之对损害具有特异的高危性。 病理改变 其病理基础是缺氧性脑病。主要表现为脑水肿、脑缺血坏死可同时合并颅内出血，晚期主要为脑软化、脑萎缩。 HIE的主要病理改变由于解剖、血管分布特点而有早产儿及足月儿的区别。 早产儿： 侧脑室旁室管膜下出血，可发展为室管膜下-脑室出血； 脑室周围白质软化可发展为孔洞脑。 病理改变 足月儿 大脑皮质局灶性或多灶性神经元坏死、矢状旁回损伤→脑萎缩；严重急起的缺氧缺血→脑干损伤皮质及皮质下白质的坏死、液化； 边缘区（分水岭）梗塞；