原子吸收光谱法段姝慧.ppt

石墨炉原子化采用程序升温过程 程序 干燥 灰化 原子化 净化 温度 稍高于沸点 800度左右 2500度左右 高于原子化温 度200度左右 目的 除去溶剂 除去易挥发 测量 清除残留物 基体有机物 干燥 灰化 原子化 清除 t T 石墨炉的优点：试样原子化效率高，不被稀释，原子在吸收区域平均停留时间长，灵敏度比火焰法高。石墨炉加热后，由于有大量碳存在，还原气氛强；石墨炉的温度可调，如有低温蒸发干扰元素，可以在原子化温度前分馏除去。样品用量少，并且可以直接固体进样。原子化温度可以自由调节，因此可以根据元素的原子化温度不同，选择控制温度。 石墨炉的缺点：装置复杂。样品基体蒸发时，可能造成较大的分子吸收，石墨管本身的氧化也会产生分子吸收，石墨管等固体粒子还会使光散射，背景吸收大，要使用背景校正器校正。管壁能辐射较强的连续光，噪声大。因为石墨管本身的温度不均匀，所以要严格控制加入样品的位置，否则测定重现性不好，精度差。 ⅲ、低温原子化法（化学原子化法） （1）冷原子吸收测汞法  将试液中的Hg离子用硼氢化钠或SnCl2还原为 Hg，在室温下，用载气将汞蒸气引入气体吸收管中测定其吸光度。  （2）氢化物原子化法  对As，Sb，Bi，Sn，Ge，Se，Pb和Te等元素，在酸性介质中与硼氢化钠作用生成该元素的氢化物分子气体并从溶液中分离出来，.氢化物分子经过加热裂解产生该元素的基态原子.从而进行原子吸收测定。氢化物发生装置适用于ppb级的测定，即10-9-10-12。单位 μg/L，μg/kg。 1. 火焰原子化法 2. 石墨炉原子化法 1)精密度高 2)灵敏度低，原子化效率一般为10%。 3)不能直接分析固体试样 4)基体干扰小，化学干扰大。 5)重现性好。 6)装置简单、快速。 1)精密度低 2)灵敏度高，原子化效率可达90%。 3)可分析固体试样 4)基体干扰大,化学干扰小。 5)重现性差。 6)装置复杂、速度慢。 3、分光系统 狭缝 光栅 反射镜 检测元件 分光系统其作用是将待测元素的特征谱线与邻近谱线分开。 　　 光学系统可分为两部分：外光路系统（或称照明系统）和分光系统（单色器）。 　　 原子吸收分光光度计中单色器的作用是将待测元素的共振线与邻近谱线分开。为了便于测定，又要有一定的出射光强度。因此若光源强度一定，就需要选用适当的光栅色散率与狭缝宽度配合，构成适于测定的通带是由色散元件的色散率与入射及出射狭缝宽度（二者通常是相等的）决定的。　　　 单色器： 主要由色散元件、凹面镜、狭缝组成。 目前，越来越多的厂家采用单光束的形式，因为单光束与双光束相比具有明显的优势： 单光束的光损失量远小于双光束 单光束仪器的信噪比高，使得测量的结果更加稳定可靠（但是需要至少30min的预热时间） 双光束的仪器光路及结构复杂，因而故障率高。 棱镜、光栅(最常用) 4、检测系统 1．检测器：作用是将单色器分出的光信号进行光电转换。在原子吸收分光光度计中常用光电倍增管作检测器。 　 2．放大器：其主要是将光电倍增管输出的电压信号放大。 　 3．对数变换器 　 4．显示系统：记录器、数字直读装置、电子计算机程序控制等 第四节、定量分析方法 一、标准曲线法 　　 配制与试样溶液相同或相近基体的含有不同浓度的待测元素的标准溶液，作 吸光度-浓度曲线，测定待测溶液的吸光度，通过标准曲线可以得到其相应的浓度。 特点：适用于组成简单、干扰较少的试样。   二、直接比较法：样品数量不多，浓度范围小 三、标准加入法 　　 当试样基体影响较大，且又没有纯净的基体空白，或测定纯物质中极微量的元素时采用。 　　 实际测定时，通常采用作图外推法：在4份或5份相同体积试样中，分别按比例加入不同量待测元素的标准溶液，并稀释至相同体积，然后分别测定吸光度A。以加入待测元素的标准量为横坐标，相应的吸光度为纵坐标作图可得一直线，此直线的延长线　在横坐标轴上交点到原点的距离相应的质量即为原始试样中待测元素的量。 使用标准加入法应注意以下几点： 1）待测元素浓度与对应的吸光度呈线性关系。 2）为了得到准确的分析结果，最少应采用4个点来作外推曲线。 3）该法可消除基体效应带来的影响，但不能消除背景吸收。 4）加入标准溶液的浓度应适当，曲线斜率太大或太小都会引起较大误差。 第五节、干扰及其抑制 （一）、 光谱干扰 　 1. 在测定波长附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线 ——减小狭缝宽度