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射线探伤原理 辐射探伤装置 应用 射线探伤原理 X射线、高能X射线、γ射线、中子射线等在真空中贯穿物质，与物质相互作用，强度逐渐减小。当一种射线贯穿不同厚度、不同材质的材料时，强度减弱的程度不同，而工件中的缺陷总是引起工件厚度和材质的局部改变，因此，测量和显示穿透射线的强度及其分布，即可发现和判别缺陷。 则：I=ID+IS I=ID+IS 当ΔD很小时，IS=IS 从上面推导可以看出，射线对缺陷的检验能力，与缺陷在射线透照方向上的尺寸、其线衰减系数与物体的线衰减系数的差别、散射线的控制情况等相关。只要这些方面具有一定的值，则缺陷将产生一定的物体对比度，它就可以被射线检验出来。 主因对比度( )影响因素 透照厚度（ΔD），选择最大的方向 线衰减系数（μ） 散射比（n），影响散射比的因素有焦距、照射场大小、射线性质和工件厚度等。 检测方式 胶片 检测器 胶片：当X射线或γ射线照射胶片时，与普通光线一样，能使胶片乳剂层中的卤化银产生潜象中心，经过显影和定影后就黑化，接收射线越多的部位黑化程度越高，此为射线的照相作用。但X射线或γ射线的使卤化银感光作用比普通光线小得多。射线胶片与普通胶片除了感光乳剂成分有所不同外，其他的主要不同是射线胶片一般是双面涂布感光乳剂层，普通胶片是单面涂布感光乳剂层；射线胶片的感光乳剂层厚度远大于普通胶片的感光乳剂层厚度。这主要是为了能更多地吸收射线的能量。 检测器：X射线穿透被检材料后，通过射线接收转换装置，将不可见的X射线检测信息转换为数字信号，然后形成数字图像，再经计算机处理后，在显示器上显示出材料内部的缺陷大小和位置等信息。X射线数字成像技术在检测效率、经济效益、远程传送和方便使用等方面都比射线胶片照相法更胜一筹。 辐射探伤装置 X射线装置 高速电子经过原子核附近时，受到原子核库仑电场的作用而急剧减速，电子的原有动能一部分或全部转化为电磁波辐射出去，称为轫致辐射。 影响产生轫致辐射几率的因素： ①与带电粒子质量的平方成反比。ɑ粒子质量大，产生轫致辐射的几率极小，可忽略不计。电子质量小，产生的轫致辐射就不可忽略。 ②随带电粒子的能量增大而增大，因此高能量电子射线的轫致辐射效应显著。 ③与物质原子序数的平方成正比。原子序数高的物质（如钨、铅等重金属）轫致辐射效应更显著。 X射线探伤机 X射线装置在额定工作条件下，距X射线管焦点1m处的漏射线空气比释动能率应符合如下要求： 加速器 加速器是由机头（X射线机头）、机头悬吊机构、调制器与低压电源柜、控制台、稳压电源柜、温控水冷机组六大部分及它们之间的连接导线和水管组成。 Ⅰ类为高危险射线装置，事故时可以使短时间受照射人员产生严重放射损伤，甚至死亡，或对环境造成严重影响； Ⅱ类为中危险射线装置，事故时可以使受照人员产生较严重放射损伤，大剂量照射甚至导致死亡； Ⅲ类为低危险射线装置，事故时一般不会造成受照人员的放射损伤。 γ探伤机 手提式：特制的可携带活度达3.7 TBq的192Ir等。 移动式：通常利用手推车移动；常用来容纳60Co。 固定式：可使用活度达 8.5 - 37 TBq 的60Co 类型 I：辐射源并不从辐照装置中移出来，通过快门或其他的机械装置来控制照射。 类型 II ：源直接从屏蔽的源容器中照射(经过通风管, 气动装置等)，通过一个套管到达照射位置。 类型 X ：特殊的应用。 放射源可以从源容器发射出； 采用遥控装置； 在照射期间源未被屏蔽 (在使用时要校准)； 手动或自动操作。 特殊应用, 例如测量管道； 设计和测试需要依赖特殊的装置。 国家环境保护总局公告 2005年 第62号放射源分类办法 按照放射源对人体健康和环境的潜在危害程度，从高到低将放射源分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ、Ⅴ类，V类源的下限活度值为该种核素的豁免活度。 Ⅰ类放射源为极高危险源。没有防护情况下，接触这类源几分钟到1小时就可致人死亡; Ⅱ类放射源为高危险源。没有防护情况下，接触这类源几小时至几天可致人死亡; Ⅲ类放射源为危险源。没有防护情况下，接触这类源几小时就可对人造成永久性损伤，接触几天至几周也可致人死亡; Ⅳ类放射源为低危险源。基本不会对人造成永久性损伤，但对长时间、近距离接触这些放射源的人可能造成可恢复的临时性损伤; Ⅴ类放射源为极低危险源。不会对人造成永久性损伤。 密封壳 ISO 2919 设计和测试 特殊形状设计和测试 用户进行的泄漏测试 螺旋导管上的源壳 导管外可加装套管、屏蔽等 连接头的形状 中子照相 应用 管道爬行器 辐照图像的实时获取是通过感光胶片、探测器，或者通过计算机显示。 用于传输带输送的产品 一般是大60Co 源或者 X-射线。 纳米CT 微焦点X射线检测系统 X类装置 屏蔽效率 2000 1000 10