GB/T 7991-2003搪玻璃层厚度测量　电磁法.pdf

ICS71.120.99;25.220.50 G 94 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T7991-2003 代替GB/T 7991-1987 搪玻璃层厚度测量 电磁法 Measurementofvitreousandporcelainenamelcoating thickness-Magneticmethod I（SO2178：1982，No-magneticecoatingsonmagneticsubstrates 一Measurementofcoatingthickness-Magneticmethod，MOD) 2003-06-16发布 2004-01-01实施 中 华 人 民 共 和 国 发 布 国家质量监督检验检疫 总局 GB/T7991-2003 ．．‘～ 前 曰 本标准修改采用ISO2178:1982((磁性金属基体上的非磁性涂层 厚度的测定 磁性测量法》英（ 文版）。 本标准根据 ISO2178:1982重新起草。 本标准在采用ISO2178:1982时，依据搪玻璃设备的特点和磁性测厚仪目前的技术水平进行了修 改。有关技术性差异已编人正文中并在它们所涉及的条款的页边空白处用垂直单线标识。在附录A 中给出了技术性差异及其原因一览表，以供参考。 为便于使用，对于ISO2178:1982本标准还做了下列编辑性修改： a) “本国际标准”一词改为 “本标准”； b) 删除ISO2178:1982的前言； c）将一些适用于国际标准的表述改为适用于我国标准的表述。 本标准代替GB/T7991-1987搪《玻璃层的厚度测量 电磁法》。 本标准与GB/T7991-1987相比主要有以下不同： — 删除了GB/T7991-1987的第1章“定义”； — 依据 ISO2178:1982，增加了本标准第3章中的3.6,3.7,3.8,3.10,3.12，第4章中的4.2, 4.3.1A.3.4，第5章中的5.3,5.5,5.6,5.7,5.8,5.9,5.10, 本标准的附录A为资料性附录。 本标准由中国石油和化学工业协会提出。 本标准由全国搪玻璃设备标准化技术委员会归口。 本标准起草单位：天华化工机械及自动化研究设计院、淄博工业搪瓷厂、山东济宁超声电子仪器厂、 沈阳市东华检测仪器厂。 本标准主要起草人：桑临春、沙庆谦、张品、杨长明、梁彩霞。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为： — GB/T7991一1987。 GB/T7991-2003 搪玻璃层厚度测f 电磁法 范围 本标准适用于用电磁法测量磁性基体上的搪玻璃层厚度的方法。 2 原理 用电磁法测量通过硬盖层与基体金属磁路磁阻的变化而得到被盖层的厚度。 3 影晌侧f精度的因素 3.1摘玻劝层厚度 搪玻璃层厚度的变化会影响测量精度，与所选用的仪器有关。对薄的搪玻璃层这个精度是一个常 数值，与厚度无关；对于厚的搪玻璃层，其精度随搪玻璃层厚度的增加有所降低。 3.2 甚体金目的磁性 磁性侧厚仪受墓体金属磁性变化的影响低（碳钢的磁性变化可以认为是轻微的），为了避免热处理 和冷加工因素的影响，应用与被测件基体金属具有相同性质的标准样来校准仪器。最好用未搪玻璃前 的试件来校准。 3.3 甚体金．厚度 每种仪器都对被测件的基体金属有一个临界厚度的要求，超过这个厚度，测定值不会受到基体金属 厚度增加的影响。