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* 单光束散干涉: 2.提取散斑位移信息的逐点分析法： 衍射晕光强： 由统计分析可知衍射光晕为半径r0的圆，且 由于Yang’s 条纹总是关于中心对称出现的，故必须满足 才有Yang’s 条纹在衍射光晕中出现。联系上述，位移表达式有： 从而得出单光束散斑干涉的适用范围： 记录平面散斑的表观位移必须大于像平面主观散斑的横向大小;或换言之,试件平面物点的表观位移必须大于物平面主观散斑的横向大小.。 * 单光束散干涉: 2.提取散斑位移信息的逐点分析法： 表观位移大于散斑尺寸： 表观位移小于散斑尺寸： * 单光束散干涉: 2.提取散斑位移信息的逐点分析法： 假若某条亮Yang’s条纹中心线距衍射晕中心距离不大于r0，则认为该亮条纹落入衍射晕。 设有N条亮条纹落入衍射晕。 由于Yang’s 条纹总是关于中心对称出现，且总有一条（零阶）亮条纹过衍射晕中心，故N必为奇数，且 * 散斑计量术 实例： 散斑计量术 提取散斑位移信息的全场分析法 散斑计量术 提取散斑位移信息的全场分析法 分析： 全场条纹分析系统是相干成像系统。 对像平面上一点光强有贡献的只是物平面上相应的Airy斑内的点。 此Airy斑很小, 可看为准平移的。位移相等的Airy斑的集合构成一个准平移区。可以对此准平移区应用富里叶变换的平移定理。 由上，对应位移为 的准平移区的谱面光强分布为 散斑计量术 提取散斑位移信息的全场分析法 由上，对应准平移区的谱面光强分布为 位移满足： 的准平移区的衍射花样在 邻域内相干抵消，故对应 的像点成暗条纹。反之，满足 的准平移区在像平面形成亮条纹。 散斑计量术 提取散斑位移信息的全场分析法 谱面光晕光强： 与逐点分析类似，可得到： 上二式联立： 结论： 散斑照相全场分析条纹是试件表面点表观位移在滤波孔偏置方向分量的等值线。 选择不同滤波方向，可得到位移不同分量的等值线。 散斑照相全场分析条纹的灵敏度是可变的，滤波孔偏置距离越大灵敏度越高。 散斑照相全场分析条纹的最高灵敏度(最小可测位移)仍然是散斑横向尺寸。 散斑计量术 实例： 散斑计量术 实例： 散斑计量术 实例： 散斑计量术 （三）用散斑照相测量自由端受集中力的悬臂梁的面内位移分布。记录系统成像透镜和全场分析系统变换透镜的参数如下表。当滤波孔中心分别位于（15，0）mm和（0，12）mm 时得到全场条纹图如右之上、下图。照明激光波长0.6μm。求 1.试件A点水平方向位移是多少？ 2.试件A点垂直方向位移是多少？ 3.给出当用细光束垂直入射到记录底片A点做逐点分析时距底片30cm处的观察屏上得到的杨氏条纹的方位与间距 孔径（mm） 焦距（mm） 放大倍数 记录透镜 60 100 3 变换透镜 120 150 1 散斑计量术 试件A点水平方向位移 试件A点垂直方向位移 杨氏条纹方位：与水平方向夹角 像面位移大小 杨氏条纹间距： 0 1 2 -1 -2 0 -1 -2 -3 -4 散斑计量术 单光束散斑干涉（散斑照相）的注意事项 .保持变形前后散斑图的相关 控制面内应变 控制离面位移 散斑计量术 双光束散斑干涉: 典型光路： 麦克尔逊光路： 此时， 相关条纹方程为： 相关条纹为试件表面离面位移等值线， 其灵敏度为半波长。 散斑计量术 对称入射光路： 此时， 相关条纹为面内位移沿照明平面分量的等值线，其灵敏度为 。 相关条纹方程： 散斑计量术 双光束散斑(合成散斑场)干涉: 一般分析: 光路:二个子散斑场相干叠加，形成合成散斑场。 记录:分别记录变形前后的合成散斑场光强分布。 处理：求变形前后散斑图光强差的绝对值。以其作为对应像素的灰度值构成新的图像。 以下的推导中以足标a、b分别代表A、B子散斑场的参量；以足标1、2表示变形前后的参量。 散斑计量术 在考察点处变形前后子散斑场是相关的 散斑位移远小于散斑大小 相关（暗）条纹方程 散斑计量术 剪切散斑光路： 条纹方程: 条纹为位移增量在灵敏度矢量方向分量的等值线，反映了沿剪切方向位移导数的分布信息。 实现剪切的方案：①光楔②光栅③渥拉斯顿棱镜④光纤 剪切光路的优点： 可以得到位移导数信息。 抗干扰能力强。 散斑计量术 剪切散斑光路： 若在受法向载荷的薄平板试件上建立直角坐标系，其O-xy平面为试件平面，剪切方向为x方向，上述条纹方程变为： 第一章 全息干涉计量 第一章 全息干涉计量 第一章 第一章 全息干涉计量 第一章 第一章 全息干涉计量 实验力学—光测力学 全系干涉计量 散斑计量术 光弹性原理 云纹 光学图像处理技术 4周时间，8-9次课