应用多入射角于影像式椭圆偏光术在表面电浆共振量测.PDF

國立交通大學 光電工程研究所 碩士論文 中文封面 應用多入射角於影像式橢圓偏光術在 表面電漿共振量測 Multiple Incident Angles in Imaging Ellipsometry and its Application in Measuring Surface Plasmon Resonance 研 究 生：陳奕仁 指導老師：趙于飛 博士 中華民國一零一年三月 應用多入射角於影像式橢圓偏光術在表面電漿共振量測 Multiple Incident Angles in Imaging Ellipsometry and its Application in Measuring Surface Plasmon Resonance 研 究 生：陳奕仁 Student ：Yi-R