量测系统分析.doc

培訓教材—MSA 量测系统分析 Page PAGE 16 / - NUMPAGES 16- 培訓教材—MSA 量测系统分析 Page PAGE 15 / - NUMPAGES 16- Chengzhi Management Technology Center 成知管理技術研究中心 测量系统分析（MSA） 测量系统分析（MSA） 第一节 基本概念 测量系统 1、 测量系统 数据是通过测量获得的，其中测量是指“以确定实体或系统的量值大小为目标的一整套作业”。这“一整套作业”就是给具体事物（实体或系统）赋值的过程。这个过程的输入有人（合格的操作者）、机（量具和必备的设备和软件）、料（实体或系统）、法（操作程序）、环（必要的测量环境），这个过程的输出就是测量值或测量结果，或简称数据。这一过程又称为测量系统，可用下图示意。 设 备操作者賦 设 备 操作者 賦 值 数据（测量结果）软 件 数据 （测量结果） 软 件 被测事物 被测事物 测量环境操作程序 测量环境 操作程序 圖例 測量系統示意圖 2、表征数据质量的统计指标 什么是高质量的数据呢？通常用来表征测量数据质量高低的统计指标是偏倚（bias）和变差（variation）。 偏倚用来表示多次测量结果的平均值与基准值之差（见图），其中基准值可通过更高级别的测量设备进行多次测量取其平均值来确定。 基准值 基准值 偏倚 偏倚 圖例 偏倚示意圖 变差用来表示在相同的条件进行多次重复测量结果的变异程度，常用测量结果的标准差σ或过程变差PV来表示。这里的过程变差是指99%的测量结果所占区间的长度（如下图）： 0.0050.0050.99 0.005 0.005 0.99 PV=5.15σ PV=5.15σ 圖例 过程变差PV示意圖 通常测量结果服从正态分布N（μ，σ2），于是正态分布下有：P﹙|x-μ|＜2.575σ）＝0.99 因此，99%的测量结果所占区间﹙μ-2.575σ，μ+2.575σ）的长度为：PV=5.15σ 测量数据质量高既要求偏倚小，又要求变差小。若偏倚和变差有一项或两项都大，都不能说测量数据质量高（见如下图） 偏倚大变差小偏倚小变差大 偏倚大 变差小 偏倚小 变差大 偏倚大 变差小 偏倚小 变差小 圖例 偏倚与变差示意圖 注：有的资料上把偏倚称为准确度，把变差称为精度，高质量书仅在准确度与精度都很高时才会发生。其中之一较低，都不能称为高质量数据。 大家知道：影响数据变差有两类因素（即波动的原因），它们是：偶然因素与异常因素。当测量系统仅受偶然因素影响时，测量数据的标准可使用极差R估计： δ=R/d2 R=Xmax-Xmin 其中d2可通过附表7查得。 n i=11 n i=1 1 n 1 n-1 n i=1 δ=[ ∑（xi-x ）2] 1/2 x = ∑xi 其中x1,x2,x3，…, xn是n 个测量数据。 第二节 测量系统的基本要求 一个可使用的，良好的测量系统必须具备以下三个基本要求： 测量系统要有足够的分辨力 测量系统的分辨力（discrimination）是指测量系统检出并如实批示被测特性中极小变化的能力。如某量具能识别长度中0.01cm的变化，但不能识别长度中0.01cm的变化，对这种量具而言，5.361与5.362都是5.36这时，0.01就是该量具的分辨力。 每个测量系统都有自己的分辨力,在分辨力范围内,该测量系统能识别零件之间的差别,但在分辨力范围之外,该测量系统将无能为力。没有一个测量系统能识别一切被测特性。 一个测量系统被选用，它一定具有足够的分辨力。这里“足够”是指： ⑴ 测量系统的波动比制造过程的波动小，最多为后者的1/10； ⑵ 测量系统的波动小公差限，最多为公差限的1/10。 σ d10, 10若波动大小用各自的标准差表示，σ表示测量系统的标准差，σ1表示制造过程的标准差，d σ d 10, 10 σ ≤min 如果测量系统没有足够的分辨力，就不能定量地表示单个零件的特性值，也不能识别制造过程所发生的波动，这时，应放弃使用该测量系统，而改用更好的测量系统，使它具有足够的分辨力。但应注意的是，有时使用分辨力过高的测量系统意味着浪费。 例10.2.1下面是