用Tophat挡板Z-扫描技术分析酞菁铜有机薄膜的光学非线性.pdfVIP

Tophat Z- 用 挡板 扫描技术研究酞菁铜有机薄膜的光学非线性 中文摘要 中文摘要 随着非线性光学技术的飞速发展，人们对非线性光学材料的研究日益加深。对非 线性光学材料的研究离不开便捷可靠的测量方法。在过去的数十年时间内，多种不同 的实验方法被用于测量材料的光学非线性性质。例如非线性干涉法、简并四波混频、 Z- 近简并三波混频、椭圆偏振法以及光束畸变法等。 扫描技术是光束畸变法的代表方 法，它是一种利用单光束测量材料三阶非线性极化率的方法。它具有实验装置简单、 灵敏度高、可以同时测量非线性吸收和非线性折射的大小和符号等优点。 Z- Tophat 本论文介绍了挡板 扫描技术，讨论了实验参数对其测量精度的影响。 Z- Z- 挡板 扫描技术在传统 扫描光路的远场区域加入了一个光阑和一个挡板，并用 Tophat光取代