辐射测试研发系统.PDFVIP

OIESA1 近场辐射测试系统 OIESA1 辐射测试研发系统 在研发工程师工作台上直接评估和减少电子模块发射的干扰 ChipScan-ESA软件安全容易操作，可对测量数据进行下面处理 : - 可视化 - 处理 - 传送 OIESA1是一套电磁兼容性工具的测试系统，用于比较测量元件组和设备的干扰放射。为了顺 利且易理解的排除干扰，这套系统包含了一套根据研发人员工作定制的 CS-ESA 软件。这套ESA1 为研发人员 的工作场所而设计。在开发过程中用ESA1进行干扰放射的测量结果与远场测量或者 用模拟电路网络的测量结果成正比。使用ESA1系统中的工具可以定位干扰源，发现干扰放射的 作用途径 ；借此可以找到合理的电磁兼容性方案，并确定其尺寸。用OIESA1得到的改进成正比 的作用于远场测量的结果。 辅助电源 屏蔽篷：屏蔽外面辐射 频谱分析仪 供电 存储：用于比较 电源