半导体器件失效分析基础.pptVIP

课程说明 课程时长：4小时 授课方式：讲授 必备条件：数投、便携机、白板、扩音设备 课程简介：通过对《半导体器件失效分析基础》课程的讲解，使学员体会到通讯产品进行元器件失效分析的重要性和迫切性，本课程主要讲授了器件常见失效模式、常见失效机理、失效分析流程、失效分析技术、失效分析委托流程等。通过80幅典型失效分析照片讲解，加深学员对该课程的理解和提高学员对失效分析的兴趣。 1、失效分析的产生和发展（续） （2）如何提高可靠性 失效分析 失效物理 工艺监控 可靠性设计等 1、失效分析的产生和发展（续） 器件可靠性研究首先是从评价可靠性开始的，但研究重点现在已逐渐转向如何提高可靠性方面。 可靠性研究更重要的是为了提高可靠性，所以失效分析和失效物理成为可靠性研究的重点。 失效分析和失效物理的研究，它不单纯是学术研究，更重要的是为了满足可靠性工程迅速发展的需要。 1、失效分析的产生和发展（续） 传统的可靠性评价工作遇到的困难： （1）在试验时间、试验样品、人力、物力方面遇到了难以克服的困难。 （2）半导体器件和集成电路的品种及工艺更新速度很快，使得过去取得的可靠性数据常常变得不适用。 1、失效分析的产生和发展（续） （3）当代电子设备和系统日益复杂化，