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半导体芯片测试系统操作说明书 v1.0 第一章 系统概述 1.1 系统概述 半导体芯片测试系统是使用我公司自主研发的 ZWL－900 测试主机、快速 光谱分析仪、 高精度直流电源、 高稳定交流电源、 数显功率计等高精度仪器， 配合人性化的上位机软件，对 HID、节能灯、 LED模块等灯具测试光、色、电 综合性能的产品。 系统实现了真正传统仪器技术和虚拟仪器技术的完美结合，既可直接通 过仪表的大屏幕液晶进行一系列测试，又可工作在计算机模式下进行各种测 试并进行数据图形分析、存储及报表打印。另外，由于系统中的快速光谱分 析模块采用了光纤传输导光、 CCD快速采集、高速数据转换系统、 VC++计算 机高效人机交换界面等一系列高新技术计量标准，保证了对在 5ms～800ms 内光谱功率分布图、半宽度、主波长、色品坐标等所有光谱参数的测量。 系统的模块化和高集成度保证了系统的高可靠性，低温漂保证了系统的 重复性。同时，系统具有强大的电源功能，最大输出恒流可达 5A。 便利的实验特性 清晰的大屏幕液晶显示器 快捷式的中英文操作按键 采用先进的四线制测量，使得测量数据更加准确 使用先进的校准算法，能够提供测量性能强大的曲线分析功能 连续性和一致性的测试功能 使用高精度、高稳定性的电源 灵活的系统特性 RS232标准接口 配有功能强大的软件，系统升级灵活 性能扩展方便 开放式的测试性能、齐全的测试支架可满足不同用户的各种测试需求 1 半导体芯片测试系统操作说明书 v1.0 1.2 技术环境 a． 操作系统： Windows XP b． 处理器：为 INTEL兼容处理器，主频 1GHz以上。 c ． 系统内存： 128M以上。 d． 光谱分析，至少具备两个可用串口。 e． 可适配打印机，进行报表打印。 f ． 半导体芯片测试系统主机及装置。 1.3 产品特性 快速、稳定 系统使用独立高精度恒流电源模块，拥有先进的快速光谱分析模块。采用等 一系列高新技术计量标准，通过信号快速采集、导光、高速分析、高效计算，保 证 ms级的测试速度和可见光波段的光谱参数测试结果的一致性。 适用性广 开放式的测试、齐全的测试夹具，利于各种规格灯具测试。 简便的使用操作 人机交互界面友善，操作简捷，实现全程软件控制。 直观、完善的测试分析系统 可系统性的完成光色电参数的高精度测试， 并通过测试界面将测试结果以图 形的方式直观的呈现出来。 所有测试条件符合 CIE 相关标准。 2 半导体芯片测试系统操作说明书 v1.0 1.4 技术参数 功能 参数范围 精度 分辨率 ≤5V：±0.2%键 值 正向电压测 1.0000V ～ +0.01 V 0.015V 量 45.000V