AlteraFPGA器件中使用CRC进行检错和恢复的测试方法.pdfVIP

Altera FPGA 器件中使用 CRC 进行检 错和恢复的测试方法 AN-539-2.0 Application Note ® ® 该应用笔记介绍如何在 Arria II、Stratix 、Stratix IV、 Stratix V 和更新的器 件中使用强化的错误检测循环冗余校验 (CRC) 功能。它也介绍在所支持器件中测试该 功能性能时所使用的测试方法。Stratix V 和更新的器件也支持错误纠正功能。 FPGA 配置期间，错误检测CRC 功能检测比特流从外部器件传输到 FPGA 时的配置比特流 损坏。用户模式中，错误检测 CRC 功能检测单粒子翻转 (SEU) 并且决定错误类型和位 置。除此之外，Stratix V和后续器件支持内部刷新，以使能够纠正用户模式中检测到 的错误。 f 要了解关于 Stratix、Stratix GX、Stratix II、Stratix II GX、Cyclone® 和 Cyclone II 器件的错误检测和恢复功能的更多信息，请参考 AN357: Error Detection and Recovery using CRC in Altera FPGA Devices。 f 要了解关于 Arria II、Cyclone III、Stratix III、Stratix IV、Stratix V和后续器 件中 SEU 缓解功能的更多信息，请参考各自器件手册中的 SEU Mitigation 章节。 功能说明 您可以使用错误检测 CRC 功能检测配置和用户模式期间 FPGA 配置位中的错误。 Arria II、Stratix III 和 Stratix IV 器件中 CRC 域的宽度是 16 位； Stratix V 和 更新的器件中为 32 位。 © 2011 Altera Corporation. All rights reserved. ALTERA, ARRIA, CYCLONE, HARDCOPY, MAX, MEGACORE, NIOS, QUARTUS and STRATIX are Reg. U.S. Pat. Tm. Off. and/or trademarks of Altera Corporation in the U.S. and other countries. All other trademarks and service marks are the property of their respective holders as described at /common/legal.html . Altera warrants performance of its semiconductor products to current specifications in 101 Innovation Drive accordance with Altera’s standard warranty, but reserves the right to ma